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這裡應該是您把DRC和LVS的error放一起講了,0 ~+ C1 j- N! o* M" D
我把兩種error分開來解釋好了., i9 P! B$ w6 h9 o- H' E
以下先講DRC的error.2 `6 S5 W; S k# y
% Q! X. X. N4 \9 V2 A
====================DRC Error=====================6 ~' {5 _6 C* I- S: `
2 ERC Warning : Latchup rule LAT3 distance s/d diff ngate net_subtap > 20' ~ @! V0 h1 ]4 g
0 l& d+ p! G6 N& u. }
若是在我們這裡經常使用CIC提供的TSMC 0.35um製程的話,
4 h. P$ r% Y9 O, ]; p" ^此類錯誤在DRC驗證時就會出現了,
9 Z, O- s3 X/ e& X# m: v不過這要看rule是怎麼寫的, 它其實並沒有一定得在做何種驗證時出現的必然性,6 J% }' l" R! Y& I- ]- ]
只是我自己把它歸在DRC Error而已.% `7 q4 [7 ^8 G. Q3 g5 D* t4 R
上面這一條, 根據我長久以來的觀察結果...通常都是佈局者忘記打substrate contact了.# } e" M+ b8 }% y5 G
如果DRC hightlight跑出來亮的是一大片的話, 那就是您忘記打substrate contact了.
# ^4 u/ e( f6 i5 J但也有可能像海闊天空大大說的...您或許有nmos或n-type device的substrate contact離device本身大於20um所致.
0 ~% g; u7 L: G y t, D# ~! t: y; W' O2 x4 @) y- o( B ~8 \
1 M1R1 Minimum density of MET1 area [%] =30
% U$ H" b; X' ^9 W3 H5 j9 y( Y1 M2R1 Minimum density of MET2 area [%] =30
/ Z+ i& c5 }) p6 u1 M3R1 Minimum density of MET3 area [%] =30, I- H: n2 V$ ^
1 M4R1 Minimum density of MET4 area [%] =30$ k, U8 F1 \- U3 ^7 ]% N
" V% E+ [* A0 I以上四條, 同樣如海闊天空大大所說, 為metal density的問題.
7 y0 w: d6 H" U# h為確保製程良率, foundry通常會制定這樣的rule,
8 ]% T, L/ f. U' |/ t7 ~不過到底是不是您要自己把metal density補到夠, 或是它們是可以忽略的"假錯",
0 U! W' S, w! u5 d& M以及要用來補metal density的dummy cell的size及其所需間隔的space,
6 l1 T( t8 ^" q$ H$ C7 x" Y _則需視您所使用的製程(哪家foundry? 多少的製程?)來決定, Design Rule裡面通常會有的, - A; I' p+ {; X: J
應該在蠻後面的地方, 您可以翻Design Rule看看.
) o8 R( Z) {& v g/ g5 W8 L& a, R1 g. k+ D" p
1 POC1 Minimum POLY1 to DIFF spacing = 0.2
6 ?& ~) C7 e) d( e" x# ~. W- y
: P! [/ v9 i2 c. }上面這條呢, 是講說您的POLY1與DIFF的space小於0.2了,
+ [8 c7 P! J4 ~2 ]用RVE 把發生錯誤的地方highlight起來, 您應該就能看到錯誤發生在哪裡了.# e E& o* J" }& t
個人猜想, 以及根據經驗的猜測呢.... l* [6 f$ p2 K l& G
很有可能是endcap轉彎要打poly contact的地方與DIFF的space小於0.2的關係,' U3 c1 D6 o! u: ^8 ]" b
或者是用POLY1繞的線與其旁邊的DIFF的space小於0.2...諸如此類的關係,
7 A% U/ w& j- B9 h8 @. f+ c' Y g而此點與上述的metal density無關, 是一定要修改的DRC Error.$ B0 d9 O6 H( k! ~0 x9 \6 N. U2 Y- e
. _% O# `4 z8 n) N( x) ?
====================LVS Error=====================
5 O0 u ^ ^7 m0 _2 o& F' @: O再來是LVS的Error:: A. S3 G+ \% _' D
& M/ A) P4 I) {; _ f
4 Label/Pin is on a net with a different name
6 i" u& h( c% ~2 _% J1 ~
0 s8 l7 Y( I7 k0 A d' L3 R這一條的話呢, 看來您是在同一條metal線上, 打了兩個不同名字的pin了.# H- ?5 |' D! n, ~' T4 {8 k# l
廣義的來說, 一條metal線(或應該說是一個節點), 1 h3 E r ], x9 Y! t$ U
絕對只能有一個名字, 也就是它就應該只能打一個pin,
1 z: }# k$ y @1 w我想可能也不見得要檢查電路圖...雖然說是我的話我可能也還是會看一下電路圖啦...8 u3 q2 y* Z4 w. ]- e
或許請您到佈局裡面看看那些metal線上是否發生了一條metal上面有不只一個pin這樣的問題,
! X, u- Q* O [) E* |那麼這一條error應該就能夠解決了.
9 M% V1 N& O8 a+ b# F1 U' c9 e9 T" H- D! g5 O# O& v! o
1 Figure Causing Multiple Stamped Connections) w3 l: B7 M: H8 g0 h' @& Z' w& o& [
1 Figure Having Multiple Stamped Connections
( d0 i3 p: m; W" H+ j- N; n8 D
7 G9 F* ]! f; p0 C! v6 }' }0 d這兩條的話呢, 如果沒有意外的話,) X& G$ B" D8 u! u% K5 X/ R
其實也如海闊天空大大所說, 其實跟上面那一條是基本上一樣的...
" V4 X: C' Q5 H3 a5 X* C1 ~所以若是您解決了上面LVS的第一條Label/Pin的問題之後,
3 s" @8 O2 }' t0 g照理說這兩條就不應該再出現了,
5 J5 ?% w( g; g' d若有再出現的話, 就要看它們是否還有再搭配其它的error存在了.
+ m; l' @2 J. |4 I- P8 v. R3 A0 ~& K# G. B
最後補充一點點東西...
) ~; f) {* o! J2 Q8 T看您發問時候的問題排版, ERC那條排在最上面,
6 m& y0 F# c$ J- I* D所以我猜有這幾種情況:9 r# c& H* `% ^1 k0 z
1. 或許您的ERC驗證是另外做的, 不像我們跑的LVS驗證裡就有含ERC rule了., c5 c: _- Q3 Q
2. 又或許您的ERC含在LVS驗證裡, 兩種一起做的, 所以它會和LVS Error排在一起./ b% Q( h( Y6 B @# o
3. 還是我想太多, 只是您把各種Error混著排罷了, 它們的位置本身是沒關係的呢? 呵呵...
" U' _& \6 j$ i) F
8 ^" t9 a5 C( Z6 {/ {, _3 [8 l& e ~7 _一點點經驗, 希望有幫上您的忙!! |
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