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這裡應該是您把DRC和LVS的error放一起講了,
4 Q) q2 s- m3 ?: X" o我把兩種error分開來解釋好了.4 \- d% ?, K8 x* S' m
以下先講DRC的error.6 B, M# n1 R7 u- M; A
0 u0 n, ]1 Q# X+ U/ n9 }
====================DRC Error=====================
4 X P# b ~% m$ J3 }# z) o& R2 ERC Warning : Latchup rule LAT3 distance s/d diff ngate net_subtap > 20
& i$ b0 i! M: O$ A: h) ^9 S% F5 |( T% c! {: L
若是在我們這裡經常使用CIC提供的TSMC 0.35um製程的話,) V4 Y. m/ _. q+ a
此類錯誤在DRC驗證時就會出現了,
# ]3 B$ [, ?- ^$ b: I不過這要看rule是怎麼寫的, 它其實並沒有一定得在做何種驗證時出現的必然性,
2 _4 D+ s' o8 s h& d只是我自己把它歸在DRC Error而已.# `" Y7 x- Z/ N6 x3 M6 V E- K
上面這一條, 根據我長久以來的觀察結果...通常都是佈局者忘記打substrate contact了.2 a4 W8 Q6 U) {; r6 n
如果DRC hightlight跑出來亮的是一大片的話, 那就是您忘記打substrate contact了.
. T/ M8 H: @. k8 y, {但也有可能像海闊天空大大說的...您或許有nmos或n-type device的substrate contact離device本身大於20um所致.
7 @" s. g% D3 o: n# M4 \2 [2 @6 Q% ?+ _+ A
1 M1R1 Minimum density of MET1 area [%] =30
) X- T# U& [% C/ e/ C' g7 }1 M2R1 Minimum density of MET2 area [%] =305 w! p; R/ \" X [
1 M3R1 Minimum density of MET3 area [%] =30
7 n8 I, J: G4 s/ I1 M4R1 Minimum density of MET4 area [%] =30% l/ N. V* ~! t! g& s1 V
! Z- }* l/ H4 ?. K以上四條, 同樣如海闊天空大大所說, 為metal density的問題., Z& }2 U1 f# [: h+ L+ P
為確保製程良率, foundry通常會制定這樣的rule,
- o7 ?# ?% _& `5 a不過到底是不是您要自己把metal density補到夠, 或是它們是可以忽略的"假錯",/ e$ z: c" {4 | t/ j0 D
以及要用來補metal density的dummy cell的size及其所需間隔的space,
2 o" L' v) _/ `4 ?% L則需視您所使用的製程(哪家foundry? 多少的製程?)來決定, Design Rule裡面通常會有的,
, A( c( \; W( K! h& k應該在蠻後面的地方, 您可以翻Design Rule看看.
- [( T. H- U! _7 o+ @4 F9 N! K3 r
1 POC1 Minimum POLY1 to DIFF spacing = 0.2
% [4 i; a, V6 P8 B8 y9 \& Y, _; |- W( b7 R- c! R3 |/ G ]% f, g% b
上面這條呢, 是講說您的POLY1與DIFF的space小於0.2了,8 T+ u" e" @3 F, B2 |
用RVE 把發生錯誤的地方highlight起來, 您應該就能看到錯誤發生在哪裡了.7 g* s# ~2 N/ L8 y: ]* {6 Z
個人猜想, 以及根據經驗的猜測呢...4 d) s. f6 _( V+ m2 w9 u; p' x
很有可能是endcap轉彎要打poly contact的地方與DIFF的space小於0.2的關係,2 H& Y, q# V& L8 M/ p8 z& @
或者是用POLY1繞的線與其旁邊的DIFF的space小於0.2...諸如此類的關係,
) n) A8 S& ` W+ r而此點與上述的metal density無關, 是一定要修改的DRC Error.
- M: i& b8 _( R9 O
" W; c$ Y+ v& ~1 Z% H====================LVS Error=====================: x, r! v& b% q5 }. U
再來是LVS的Error:4 y; a; g w( M0 z! W
+ V) q! z8 j9 L+ P4 Label/Pin is on a net with a different name
7 o/ [* }% N q+ G7 O& A. [( F. t7 ^+ }! }. h6 A
這一條的話呢, 看來您是在同一條metal線上, 打了兩個不同名字的pin了.! w1 `9 j) U( x. U. o, |7 o
廣義的來說, 一條metal線(或應該說是一個節點),
3 ]& V# F1 @! ] m絕對只能有一個名字, 也就是它就應該只能打一個pin,
' I6 D3 o. P# ]) z+ Z% O; V% ~- Q0 D我想可能也不見得要檢查電路圖...雖然說是我的話我可能也還是會看一下電路圖啦...) p% }. p8 @3 ]
或許請您到佈局裡面看看那些metal線上是否發生了一條metal上面有不只一個pin這樣的問題,
- H7 l$ j' j8 g# @: c0 k" e那麼這一條error應該就能夠解決了.
+ H5 t, x; s5 f+ Y1 M, }
+ X( J* j4 {; Z) k1 w! v% F1 Figure Causing Multiple Stamped Connections$ I" r% ]8 ^: D2 O! Y @
1 Figure Having Multiple Stamped Connections8 w" F0 `: \# e w/ A; |" X
0 p L A8 b+ K6 ]! o8 o; q/ ~+ Y
這兩條的話呢, 如果沒有意外的話,3 }1 ~$ M0 R- H- g0 B- U$ T
其實也如海闊天空大大所說, 其實跟上面那一條是基本上一樣的.../ Z" }( A& c0 A7 a1 f8 u
所以若是您解決了上面LVS的第一條Label/Pin的問題之後,9 w: B5 ~9 Q( u8 ^% d8 ^! Y, Y
照理說這兩條就不應該再出現了,
" H$ Y) {7 J' ]* D% e若有再出現的話, 就要看它們是否還有再搭配其它的error存在了.# @- {5 _+ r0 T; j
0 h6 @0 _4 Q) a- G5 q最後補充一點點東西...4 D( B, }: f4 c- X% |4 O5 I! X
看您發問時候的問題排版, ERC那條排在最上面,6 S$ t! ?$ Z6 w9 ?9 ?* D
所以我猜有這幾種情況:
( Z# A6 I! A* h7 v& s% a5 p1. 或許您的ERC驗證是另外做的, 不像我們跑的LVS驗證裡就有含ERC rule了.
# v# r1 ^4 d' w' ]* N% D ?5 E( k2. 又或許您的ERC含在LVS驗證裡, 兩種一起做的, 所以它會和LVS Error排在一起.$ K7 N% V5 U! d
3. 還是我想太多, 只是您把各種Error混著排罷了, 它們的位置本身是沒關係的呢? 呵呵...1 |# q& T) A, S
L9 H' C2 Y0 |0 G1 L
一點點經驗, 希望有幫上您的忙!! |
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