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這裡應該是您把DRC和LVS的error放一起講了,* ~6 G6 O6 p5 l7 |* }. V, v
我把兩種error分開來解釋好了.1 W' \6 p* e* ~7 R" s, O; Y
以下先講DRC的error.
9 O& }; X Q5 |) k" c: ~! X. o& g6 [0 h# Z" n
====================DRC Error=====================; a" c; f% _3 D ^* \
2 ERC Warning : Latchup rule LAT3 distance s/d diff ngate net_subtap > 20) o, f6 a2 }0 u8 K2 P0 m& a
* i6 K2 s. o1 M若是在我們這裡經常使用CIC提供的TSMC 0.35um製程的話,
1 H" g9 O5 k. g# o9 }; J/ A此類錯誤在DRC驗證時就會出現了,+ z* N- s4 ~, `& i5 x" A4 @' y
不過這要看rule是怎麼寫的, 它其實並沒有一定得在做何種驗證時出現的必然性,% }; Z3 f- [3 F w4 ], y
只是我自己把它歸在DRC Error而已.
+ G, u1 b; Q1 C$ e0 `上面這一條, 根據我長久以來的觀察結果...通常都是佈局者忘記打substrate contact了.! S$ g. v) a5 W2 b0 @$ s
如果DRC hightlight跑出來亮的是一大片的話, 那就是您忘記打substrate contact了. A2 g# P p) L" m! s8 s& N' I5 S
但也有可能像海闊天空大大說的...您或許有nmos或n-type device的substrate contact離device本身大於20um所致." ?# \, L% W% S3 Y) x4 G- A
2 n; \" X' N- Q, s6 s
1 M1R1 Minimum density of MET1 area [%] =30
9 C" ~( Q, |6 y: y& l7 L1 M2R1 Minimum density of MET2 area [%] =30
$ T! G; W' @ o) h3 R1 M3R1 Minimum density of MET3 area [%] =30, s# H2 d& L/ V) P+ G: Y
1 M4R1 Minimum density of MET4 area [%] =30
; i3 j* A' _0 G! \% E5 @6 H& l* L8 @1 I( p: C
以上四條, 同樣如海闊天空大大所說, 為metal density的問題.
1 p) b) V) N+ b! D& u為確保製程良率, foundry通常會制定這樣的rule,
. i) D: u; k1 ?) r; A不過到底是不是您要自己把metal density補到夠, 或是它們是可以忽略的"假錯",
/ t* G/ F5 R/ x- C( v/ T以及要用來補metal density的dummy cell的size及其所需間隔的space,% o9 ~' N7 _* V! C6 Y- p- c
則需視您所使用的製程(哪家foundry? 多少的製程?)來決定, Design Rule裡面通常會有的, ' u1 L) l! w% {: Z, U( \
應該在蠻後面的地方, 您可以翻Design Rule看看.( C3 f6 q( D4 N3 H$ a; D8 g
( h. b! H% e" Z9 ~3 M0 N5 e/ `1 POC1 Minimum POLY1 to DIFF spacing = 0.2+ U1 @" |# e. q, J
5 F7 u5 ^; t. g) H6 x0 E+ U上面這條呢, 是講說您的POLY1與DIFF的space小於0.2了,
1 P2 J0 \% R" j+ M9 p0 w用RVE 把發生錯誤的地方highlight起來, 您應該就能看到錯誤發生在哪裡了.
! v. q& m6 G3 m個人猜想, 以及根據經驗的猜測呢...
- U! ~: S* |6 `6 }; _. o很有可能是endcap轉彎要打poly contact的地方與DIFF的space小於0.2的關係,+ q* G% {, Q# }' Y+ W
或者是用POLY1繞的線與其旁邊的DIFF的space小於0.2...諸如此類的關係,
' y2 {) v# v. i$ j0 x" b而此點與上述的metal density無關, 是一定要修改的DRC Error.
& ~7 y& C. o& Q% N- S& @$ ]/ C' f4 f: u$ N" R; J
====================LVS Error=====================
. K8 P: d& [% Q再來是LVS的Error:; s5 ?; `/ S* d8 }" B5 l
: w+ F' ^$ M9 ~
4 Label/Pin is on a net with a different name
, a$ y2 s7 K+ a$ j5 [! O9 ]/ x% Z
& e6 c+ j9 b; r8 B9 z, E0 `6 @這一條的話呢, 看來您是在同一條metal線上, 打了兩個不同名字的pin了.2 t, t% z4 D: F/ m2 |7 y! |
廣義的來說, 一條metal線(或應該說是一個節點),
( N! Z+ N' c7 o3 a1 ?2 E絕對只能有一個名字, 也就是它就應該只能打一個pin, 0 X9 J0 X9 {8 X* `
我想可能也不見得要檢查電路圖...雖然說是我的話我可能也還是會看一下電路圖啦...
1 p4 A+ X( U2 x& s或許請您到佈局裡面看看那些metal線上是否發生了一條metal上面有不只一個pin這樣的問題,* ~: b, o- P4 q/ A
那麼這一條error應該就能夠解決了.
- e+ n& `% ?9 R& h! P* q& L' x7 ?) [$ E4 r, r t
1 Figure Causing Multiple Stamped Connections- R2 o3 {: q7 s
1 Figure Having Multiple Stamped Connections
: Z6 z* b0 F+ l: H4 w% s4 v
7 H" T* n8 U4 G這兩條的話呢, 如果沒有意外的話,
* d- g5 _$ T! l9 C* q! q9 M. t9 e其實也如海闊天空大大所說, 其實跟上面那一條是基本上一樣的...
, c/ w6 u: L% @* H所以若是您解決了上面LVS的第一條Label/Pin的問題之後,% e2 O+ D/ |+ R) \
照理說這兩條就不應該再出現了,! u- I# q4 J8 J* V' k
若有再出現的話, 就要看它們是否還有再搭配其它的error存在了. J7 w6 O0 m1 [! [4 |
: W9 I- u" K9 Z) ^最後補充一點點東西...3 g$ v8 d2 ]5 Z9 z; w
看您發問時候的問題排版, ERC那條排在最上面, r+ m6 X# d8 P: J7 m
所以我猜有這幾種情況:
' R w* Z/ D2 F' v9 v1. 或許您的ERC驗證是另外做的, 不像我們跑的LVS驗證裡就有含ERC rule了.: ]+ l% M1 B7 u6 Q N5 q! e' i
2. 又或許您的ERC含在LVS驗證裡, 兩種一起做的, 所以它會和LVS Error排在一起.: f+ o @& a |+ \7 @
3. 還是我想太多, 只是您把各種Error混著排罷了, 它們的位置本身是沒關係的呢? 呵呵...
7 P4 Q5 H+ N c; O
. n7 ~! y# W2 A$ N+ |6 ^; y一點點經驗, 希望有幫上您的忙!! |
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