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原帖由 finster 於 2007-9-10 01:05 AM 發表
! ^4 Q( f) ^8 v0 ?至於另外一篇有探討到emitter area=10*10um^2的BJT的比較,因為年代有點久,我還得再找找,我印象中有幾組不同size的比較,至於有沒有比較出10*10比20*20甚或50*50的值,我不敢說有或者沒有4 g; y( O7 J P6 r' K
- S3 O4 z- R9 H8 Z9 S& i9 C再回答一下問題 `1 R8 @0 e0 E k6 T8 p
在我作過的Bandgap circuit中,曾下過UMC和MXIC以及Charter,在作post-sim時,抽完LPE的BJT參數和沒抽之前是一樣的,而這表示其實製程廠對於在CMOS製程裡對於BJT並沒有辦法作太多的寄生效應出來,所以所抽出來的LPE才沒有太多的參數,故而製程廠所提供的SPICE Model準不準就變成是一個很重要的課題了- P6 Q& ^1 }/ p g' u: p ~0 r. Q
再者,在CMOS製程裡,主要元件為MOSFET,理所當然在MOSFET所抽出來的寄生效應會比較多參數可供參考,如果是在BiCMOS製程,我想BJT所抽出來的LPE參數應該會多很多吧
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( W( d7 r& G/ n# v P最後,我曾和製程工程師以及一些資深電路設計者談過,在CMOS製程裡作出BJT,那是一種近似的BJT,而在Bandgap circuit中,我們要用的是BJT對溫度的變化,而不是BJT的電流特性,故而在設計Bandgap circuit中,所在意的是溫度與電壓變化對於Bandgap voltage所造成的影響有多少,所以,在SPICE Model中的BJT,主要看其溫度係數變化參數而不在意其電流增益,所以,很多BJT參數是可以被忽略不計的1 `/ H1 A0 m2 t- v: ~" j+ T8 b
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關於1:8的問題,附件檔這篇之前板上有分享,所以我有大略的看過
" A5 E) Q( w- f4 E& w比較不清楚的部份在於它說當N增加時會增加更多的error,卻沒有說明發生的理由與增加多少時此error的程度有多嚴重
9 B- }8 y: s9 _% i! k5 |在A CMOS Bandgap Reference Circuit with Sub-1V Operation這篇中是使用1:100/ @/ c3 @0 E; p' b9 e
在A sub-1-V 15-ppm °C CMOS bandgap voltage reference without requiring low threshold voltage device這篇中是使用1:64
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% N: ^' N4 G# E( e關於size的問題,我想知道的是10*10是不是當時比較的幾個bjt中最大的size
9 J1 n: ^/ N% n5 Z, [1 m b" ?8 d如果是,比較好解釋;如果不是,我想知道原因為何$ y, k5 C* O! Y" ~
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至於bjt在lpe後並沒有抽出額外的參數,我想應該不能解釋成製程廠無法作出bjt的寄生效應9 O7 ^( A( A5 U" g- Y
因為以電阻來說,在lpe後電阻也同樣抽不出tc1,tc2,vc1,vc2,但這些數值卻是spice model中有明確定義的! b R$ S7 V; t5 c7 o9 n$ e
) l4 S& }. W2 e! V+ K- s6 W至於area這個參數要不要設,我是從以前就沒看過有人在設
) r; s9 v; h1 W只是最近忽然看到hspice manual而想到這個問題 |
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