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原帖由 woo240 於 2007-8-12 08:25 PM 發表 " x( G, k! |0 T4 [/ c/ I
小妹又來了。5 W5 {0 }6 u" _' O U: z6 ^
這次我的問題是:
; U1 i0 ]& h9 V) {; a1.當在畫電阻時會以contact來連接,以做成較大的電阻,聽說contact的邊緣與電阻也有關係,要考慮進去這是為什麼?5 ]: b6 |" _3 P* |* Z+ N/ |
2.當電阻彎曲時,也會使電阻產生不確定的因素,why?(如下圖 ... ( S$ D. i) g$ Q4 s+ S
& }( c5 P( [& Q, m: AQ1:當contact連接到下層的metal時,會有接面電阻..因此要考慮的應該是contact到metal間的電阻
7 h- e2 J6 h) a0 y, X4 O; e/ _9 E 但因為要接contact, metal必須畫大一點..但是poly的電阻是以一口來作為計算的準則0 t0 h: Y: @$ k& v
雖然電阻看起來是比較大,但是在L/W都一樣的情況下,poly電阻的大小都一樣大
0 j: F# W* c$ }" N 例如: L/W=1/1和L/W=1.5/1.5時,兩個電阻都一樣大 D8 c9 N( H5 I, g, [
因此第一個contact接到metal,應該要考慮的是接面電阻7 O1 |, |6 M3 p; I7 a4 d/ B
. J0 l$ s+ g& u% h, MQ2:在製程時,會有所謂的邊緣擴散~
" v: T) X1 O; T1 w, I: T! f 依照這樣轉角的電阻畫法,因為排列的不相同,
I) B( P( r3 ^ H- H' E2 e. p 所以擴散的情況也會不同. c. B' d3 S3 O4 D
若是轉角擴散情況嚴重,造成上下兩條直線接在一起
; y+ a9 p0 H) e% l 整體的電阻值會變得無法預測..(以一般.35製程來說...實際下線的電阻値與劃出來的電阻值約會下降10%)& \% f% L$ Z8 ?% n8 S) Q
因此通常在繪製電阻時,通常會採用串聯的方式..
% M; n0 b* o" F) G6 t9 v7 d 分別繪製相同大小阻值的電阻串聯起來~來達到想要的電阻
' h R8 i" \. W+ V l 這種作法,因為每一段電阻值都相同,因此可以假測變動的情況也會相同# q- k" c- `8 ~2 s& n; ~
但是整體而言,因為一起變動,可以把電阻的變動直降到較低的情況2 D& }; v; r: `8 X+ _# k1 ]! |
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這種轉角的電阻畫法,還有另一種缺點:
& @8 w. X* Z: Z$ W& S7 N n! R 因為電子會在轉角處聚集較多的電子,因此在轉角處會較易過熱
1 V4 W3 e0 d6 @8 y8 F 容易造成electromigration,也就是所謂的電子遷移..
% V0 B/ Z/ r5 _% X4 F7 }% W* U 更簡單的來說,再轉角過熱的情況,該處的金屬容易因為過熱而斷掉或因為熱擴散造成電阻值變動& L6 U7 f3 D, P
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這兩個是轉角畫法較嚴重的問題
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另外是Q1.bending and edge effects是低電阻係數偏愛的9 E( O7 C5 X) s
這個問題,以實際的製程來說,電阻畫的越小,在製程時造成的邊緣擴散效應較低2 e2 W0 v1 D) l2 |. b! y
因此電阻值畫的越小,電阻值的變動越低
' a! }7 y2 W/ j" V. R6 {換句話說,用較小尺寸的電阻做串聯時,電阻的變動會較低 |
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