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[問題求助] supply clamp and I/O clamp ESD

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1#
發表於 2007-8-1 14:36:21 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
Supply clamp ESD need to  consider both holding and trigger voltage
6 f% m7 ?: |$ @1 H1 O6 ^' pI/O device clamp ESD need to consider only tyigger voltage
: L( N8 y+ `: O$ a, ?$ Q( ~7 B
1 S* D- u2 `1 z# X請問這是為什麼?有誰願意解釋一下2 S: A- P* N; w# F% `2 g. M
感激不盡
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2#
發表於 2007-8-1 21:10:40 | 只看該作者
I/O is trigger signal,Vdd node is constact voltage,so consider holding voltage
3#
 樓主| 發表於 2007-8-13 15:26:50 | 只看該作者
謝謝你的解答 總算瞭解囉∼∼: L1 e: Y) E+ o8 U
再請教一下
$ y5 Y! w1 g. Q% F假如已經有對VSS與VDD的ESD 保護電路0 ]3 @9 K9 M- l0 V0 m2 t1 M
還要需power clamp電路嗎???
4#
發表於 2007-8-22 21:16:59 | 只看該作者
您的意思是否是指,  power pad 已經有保護電路, 是否還需要在一般 I/O Pad
+ Q5 V0 F  l9 j  \裡做這個 device??$ y+ Y# Z7 t' H! C  F. e

  @! U. b7 d/ U5 ?) I: y7 G) z( o4 a4 o曾經問過 foundry 的人, 基本上是能放就放, 不然在這個 mode 發生 ESD 時要6 {& ?. P  R6 M
全部靠 power pad 的 power clamp 線路來釋放 ESD 效果可能不佳...2 w  w* J+ p) }# S& ]  }/ T
可以看一下 design rule 有沒有提到這段, 有些會規定 chip 單邊每一定的長度 & H* J2 Z4 A( j  W8 `% _
power clamp device 的 width 累積要有多長...所以一般是除了 power pad 以外,4 i, J  S  s2 Q4 Y  X
一般 I/O pad 能放都會放, 另外因為 floor plan 產生的縫隙也會儘可能塞這種 device..
$ l' i+ Z( e7 u, y& M
. c: x+ {' B& T; q$ b( a寫了一堆, 不知道是不是您要問的問題...

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參與人數 1 +3 收起 理由
cuban487 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-8-28 12:08:28 | 只看該作者
foundry 提供的design rule  是有規定power line 多長需搭配一個power clamp device
# i' j) z/ Q+ G; J經過你的解釋總算比較清楚~~
& Q* P/ z$ V. V, g' O. k感恩~~
6#
發表於 2008-3-13 18:08:06 | 只看該作者
原帖由 ywliaob 於 2007-8-28 12:08 PM 發表 . @% X* U8 ~+ i0 N8 |# y( ]
foundry 提供的design rule  是有規定power line 多長需搭配一個power clamp device
) z& L) h# d" b% ?( V5 u經過你的解釋總算比較清楚~~) l$ e1 c9 p1 v" ^. m# [
感恩~~
( }  D5 R, _7 o  _8 a' V$ A

& C. V4 m! R+ E( a, T- w- p
2 Q* d; u9 ~! S' W3 g如果fab没有相关的designrule,经验值是多少?
7#
發表於 2008-3-20 21:56:52 | 只看該作者
foundry的guideline基本上是1000um放一個,9 Q/ x  j5 [% ^7 K2 I8 [& e
實際上的概念是任何IO對power clamp的metal 阻值小於3 Ohm,
7 s7 m( ~$ J! }) E( W$ }而更先進的製程進一步規定需小於1 Ohm.
8#
發表於 2008-4-12 01:10:49 | 只看該作者
請問你們使用哪一種類型的I/O cell設計?
# r+ Z2 _+ A; E1 B
$ F9 a( i1 w9 |' v1) Local cell (PDIO + NDIO) + RC trigger clamp* k0 f% p# P+ Z5 G( U5 A$ u
2) Local cell (GDPMOS + GGNMOS) + RC trigger clamp& h# @: K6 q6 c' Q; o* i
3) Purely GGNMOS' U9 L, m& }4 R) \' f( H: G8 Z1 x' L

* V0 q7 b9 m, [* BFor RC trigger clamp, how much RC do you design? My company needs 4KV HBM.
9#
發表於 2008-9-8 23:15:28 | 只看該作者

回復 8# 的帖子

看是哪一家製程# N' H1 r# d2 D* q/ H  T
RC設計大於 100ns 小於 1us 即可
3 A, _4 o4 D/ T$ T4kV 的話  NMOS 要化大一些
10#
發表於 2008-10-23 09:54:54 | 只看該作者
原帖由 odim 於 2008-3-20 09:56 PM 發表
2 B+ d% J1 L. y- u" Y/ B# }) Gfoundry的guideline基本上是1000um放一個,
, s3 K5 C( h1 f. D) |) ]9 ~實際上的概念是任何IO對power clamp的metal 阻值小於3 Ohm,
5 O$ H$ \1 s: C3 R/ C而更先進的製程進一步規定需小於1 Ohm.
$ O9 ]4 }6 n" r# `8 ]  X

! J8 c6 U* n  |/ J3 l  u4 V这个我也听说过,应该是比较好的经验值!不过power clamp的metal 阻值小於3 Ohm,比较难实现!
11#
發表於 2008-10-23 10:00:51 | 只看該作者
原帖由 cthsu1 於 2008-9-8 11:15 PM 發表 5 ]$ ?. `# J1 R* I* V
看是哪一家製程
+ _+ ]8 v) y) K! o! \9 ARC設計大於 100ns 小於 1us 即可
- X- R8 `. ?6 V7 T5 M) L* d! W4kV 的話  NMOS 要化大一些

# N- w/ V: @  s( C" p0.5um process的话,到5KV没问题,0。35um以下4kv可能也可以!……………………
12#
發表於 2008-10-23 12:20:20 | 只看該作者
我現在做的是0.13um,要4kV,而且是multi-power domain,有點困難...8 Q) `1 Z3 Q" S5 P0 c" \4 F
Layout 的要求非常高! 但是永遠實際上是做不到~~~trade-off~~
13#
發表於 2008-10-30 14:55:57 | 只看該作者
0.13um,要4kV?呵呵,有点难,不过论文上说可以到5K∼6K,可以查查看!
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