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[問題求助] poly fuse 的問題

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1#
發表於 2007-7-5 15:27:40 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
不知道發這個版對不對... 7 h  x  W# y& ?' @- R7 u- y& h
& u  H! p  j: J* A3 u
想請教版上有使用過 poly fuse 的前輩們..& i$ f7 W4 y7 T* i- B
一般在 C/P 時要確保 fuse 燒斷的條件是如何?? 小弟目前有個產品使用 0.35um process 生產,
* f  z, s0 ~0 G# {2 D4 }poly fuse 區域 W=0.4um, L=0.8um, trim 的條件為 5.5V, 限流 150mA, 持續 70ms, 不過ㄧ個
6 H7 g+ [/ Z* s0 q1 V8 Y- blot 生產下來仍有 2% 到 8% 不等的失敗比率 (從 log 看起來是沒有完全燒斷)...
7 j  {" M0 C0 E' q6 `* ]" x# r- ]% R$ w6 Z
目前沒有什麼方向...不知道該怎麼解決說...) y6 ?0 w: V+ C5 G
) m/ m( P& Y) ?. k4 j: {8 h
先感謝前輩們的分享.." w/ ~/ T% x, i
9 c1 P  s/ V  o6 ~0 ?( r, X" X
以下是 Fuse & Trim 的相關討論:
, j4 e  [$ Y2 ~& C  ~e-fuse?  - z0 n2 D9 X" I/ {: i$ M6 g6 E
poly fuse 大約多少能量便可以燒斷?
8 u# S4 Z" u) q1 k1 e如何判断poly fuse 已经blown  
9 x0 w9 f' `  |4 j# {( x& E) X- Y有關poly FUSE的不錯paper給大家參考  9 A5 G# c4 t1 |6 G
Laser Trim
+ j- t& }. e+ F3 n6 B9 q5 q( I9 o做完laser trim後內部的電路被打傷的情況嗎?  7 }7 ]9 k: [) J, i. s
Trimming method?   
! \2 C0 \( T9 f: B5 [! TCurrent Sensing Resistor Trimming!!   
" {6 K5 I9 ]# O! g7 k8 y7 h  G7 @请教做laser trim的注意事项  
3 ?: Z) D0 f, U$ qCurrent trimming 要如何做呢?  
+ A2 L7 _5 j& v7 M+ B+ j$ M- U/ u2 D, a8 A0 `7 c

9 b* y+ y4 M7 d) d8 R" d
  j# Y, C; ^1 d8 ^

' a* u9 l' M6 q6 J9 d[ 本帖最後由 sjhor 於 2009-3-17 06:39 PM 編輯 ]

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monkeybad + 3 Good question!

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2#
發表於 2007-7-5 19:49:58 | 只看該作者
提示: 該帖被管理員或版主屏蔽
3#
發表於 2007-7-6 13:08:04 | 只看該作者
1.一般題高電壓是可行的,但須不damage device 為前題; .35 應可耐到至少 7V 不會 break-down 吧!?( c( W' X6 R+ D  n7 |9 S; ]! m$ q
2. Current limit 放大些,因為初期的做用會因為 R 小讓 current limit 限制了stress 的 power ( I^2*R << V*I; 因此時的 V已掉落至很低的電位了!
2 s" t; \" ]7 _結論: Current limit 放大至 CP 探針之限額內, V 提到最大且不會 break-down, trimming 的時間可以縮短很多!可靠度也可以改善!

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wpwang + 3 Good answer!
skyboy + 3 很實用的回覆, 謝謝..
mt7344 + 3 Good answer!

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4#
發表於 2007-7-8 23:07:08 | 只看該作者
poly fuse ...) k7 e+ B$ ]) T! g; i
我看到的fuse 很少有用poly fuse
' C1 O$ A' p% Q- Q, E通常是用metal fuse...
$ _4 R5 f  M- G3 I# N我以前看過有使用poly fuse
* z$ Q' K" y  q% L. \8 ?7 Z& T1.因為 process 是 0.6um 所以電流較大(about 350mA)
1 P8 v3 ^/ ?% U+ w, [, C大部分的fuse 都燒斷了,但是還是有一些無法燒斷  t4 ?% K7 @! G8 y# O( K" e$ k
有用顯微鏡看(0.6 um 還可以看啦)
5 l3 I: y7 y2 R( @2 n$ N發現到燒斷的地方形成一個節球,又短路在一起了* W: ~, M- D' S& T' `, H6 G& G
才發現到layout 的形狀也是蠻重要的
- Q! U* ]% I8 N. f最好要有轉角(電流集中)5 a3 Q1 s5 M3 i/ u+ R. e' O; W
2.fuse 的地方通常會開window
) I# H' p. e: z. e* I......結果......水氣跑進去,原來燒斷的地方又短路了???0 ]$ g# a4 x: r0 v9 }
目前解決的方法是,封裝前要烘乾一次........, ]3 S# g2 `# ]
) v/ n1 U; p+ c* B+ \( k
以上是實際的經歷,僅共參考

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skyboy + 3 很有用的經驗, 感謝分享..
mt7344 + 3 Good answer!

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5#
 樓主| 發表於 2007-7-10 21:55:34 | 只看該作者
嗯..感謝兩位大大的經驗分享..7 }, ^8 t* X" p! Y+ T8 f

/ q% `& J3 e( F1 w3 X% D8 ^" X, K關於 ssejack1 大的建議, 從過往的 WAT 來看這個製程 3V MOS gate oxide 的 break down 電壓大約都在 8V 上下, 雖然 WAT 的 spec low 是只有 6V 啦 (foundry 的 spec 都訂得超級寬...) ( I  \) T' ]. ^2 C

3 W# v3 t7 M" N# `" G# Q2 ?不過應該還是 ok, 所以我們已經修改測試程式提高 trimming 的 stress, 這幾天應該就會試試看...: ?, [* g* E9 _& @6 y1 Y

( H( r9 [3 r4 Q7 r7 Z' r# U另外關於 kkk000777 大的經驗, 有個可以分享的是, 我們之前針對沒有燒斷的 die 去做 PFA, 剝到 poly 那層發現就像大大說的一樣, 燒的時候是有熔斷, 不過又"流"回去了 (foundry 的說法) 就又 short 了, 而第一次沒斷要再燒就很難斷了 (應是因為阻抗變大, 同樣外加電壓下的電流就又更小了)...1 l* Y5 M7 r1 G/ G. V8 O" k; x

& G+ H9 G+ b! w6 {, k不過 foundry 的人說, 我們的 poly fuse 被 power ring 蓋住, 是造成 poly 燒完又搭回去的主因, 建議改光罩, 關於這點不知各位看法如何? 我是覺得不太能說服我, 就算我上面沒有 metal 蓋住, 也是有其他的 field oxide 以及 passivation 蓋住, 應該也有一樣的問題不是嗎??
2 ~/ r% t! m# u( S/ l/ c8 p0 q9 g* p( E- m/ _$ ~* W  T: F, E
另外我再衍生兩個問題 (我問題真多.. )- k  s4 r! ~( m1 h8 i
1st. poly fuse 與 metal fuse 有孰優孰劣 (可靠度) 的分別嗎?? 上次有個 foundry 的人跟我們說, poly fuse 的良率是很低的..(??) 因為我們使用這個東西的經驗並不是很多, 一開始就是用 poly fuse..目前有新產品在進行, 應該也會放入 trimming 的機制, 想了解一下業界在使用 fuse 上的一些習慣..6 \' W6 i" s* I" i1 a

  F8 E+ z$ p3 C. ^2nd. metal fuse 除了面積較大外, 因為他燒斷時是"爆開"的, 會不會有 short 到另外的 pad 的問題?? 還有就是大大提到的水氣, 是否要考慮 package 品質導致日久也是會有水氣跑進去導致 short 造成的一些誤動作??  假如終端應用上是單價較高或環境較嚴苛的產品, 需不需要考慮這個問題??

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mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 2 感謝經驗分享!
chip123 + 3 不怕問題多!怕的是沒人討論?論壇吶!

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6#
發表於 2007-7-12 20:40:26 | 只看該作者
1.關於poly fuse 的方面,其實我們公司已經放棄此做法& U! w1 M; }- {1 z
   由於不是直接使用pad dirver , 是built-in buffer(nmos)4 z7 `. `5 s; C. K6 }9 w! }
   算起來還真的是不划算說,由於並沒有量產所以良率並不是很準確
+ \7 U. ~# V/ o# S5 Y4 t   但是工程樣品的數據大約 80% .
* m0 f9 Q% k9 _4 G8 I
  I8 A: |5 ~1 a0 s- ]4 e+ w1 }) D2.metal fuse 的方面,目前的測試數據還算不錯,隨便都燒的斷& h2 X! J6 C& v/ N* B4 a/ N
   不過要注意layout , 多個轉角比較容易燒斷,也不容易熔回去$ j% f" B0 l4 Z% B) j" h0 N7 x

5 w+ ]9 c' n) C/ O* F, @- F3.關於開window 的部分,也不知道是誰建議的(好像是fab. 的人): Y1 z+ a; Q: `& q5 g& f/ j
   水氣就是會累積啊,真是XXX,害我drc 跑個半死....8 g8 ^& o  G. u, [+ Z; B
4 z) R% f* M9 y) x
4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考
% b" w  B. ^6 q4 w2 `" G   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......* F7 @0 c& _& C$ y% I0 z
   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的4 y! G( D5 O3 Y- U9 j8 l- j0 b& b# E
   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),! C6 ]; _+ p+ a6 O) Y! _. b; `
   面積當然省啦.....2 U2 c# i- ]; L1 X& [2 S2 i
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以" B8 p) c" W, Q4 ?
   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給
5 [) U' Y) ^) y; A( s! w: b   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看....

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參與人數 5感謝 +2 Chipcoin +5 +11 收起 理由
sam7186 + 2 感謝經驗分享
ssejack1 + 5 感謝經驗分享
skyboy + 3 實用的經驗分享, 可以嘗試..
mt7344 + 3 大大感謝啦!
sjhor + 5 感謝經驗分享!

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7#
發表於 2007-7-16 17:57:12 | 只看該作者
以前接觸memory時有使用poly fuse,修補率都有95%以上,影響修補率有許多因素,laser machine setting, fuse layout的條件都會影響,我這裡有一份Excel file有針對輸入不同條件如何選spot size與energy,focus以達最大修補率, 可發email跟我要

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wpwang + 5 人人為我,我為人人!
mt7344 + 3 學到不少!

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8#
發表於 2007-8-1 21:47:47 | 只看該作者
請問 poly or metal fuse 與 靠 MOS gate oxide breakdown 的 OTP 比較, 優缺點是哪些?
# d" c1 ]; r# i; R* fThanks.
9#
 樓主| 發表於 2007-8-3 14:12:36 | 只看該作者
原帖由 kkk000777 於 2007-7-12 08:40 PM 發表 ; W! B$ e" M( _- _( T
4.其實我看過atmel ir demodulator fuse 的做法,提出來僅供參考) ?( J5 p2 o! F; m+ C* N" D
   它也是使用metal fuse ,也有開window ,但是.......
3 @6 N0 U0 A% l4 ?7 F; y* y5 i  R   它是pad direct driver , 居然把fuse pad 擺到切割道上,還比一般的
3 X7 C- {$ y( z$ N" w   pad (90X90)還小,(70X70)啦,(測試針頭可以容許較小的誤差),
  X( g! u% |$ m0 V& d& M   面積當然省啦.....; e5 C3 U, @6 @- P. W
   由於不會受限於buffer ,所以metal fuse 阻抗可以大一點,就是可以0 {- @6 T8 L/ m" `# ]" W9 M6 j
   長一點啦,yield 當然好啊 ,像我們跟fab. 沒有那麼深厚的交情,不給# ?( u+ Z  r: v
   我們這樣做, 真是差很多說.......可以試著凹凹看.../ _) Y/ N, `8 |0 T8 Z- e# e
1 u3 ]' a: T1 s' {1 C% _4 h7 a

: Q& A/ `2 b) X7 p5 |看到 kk 大的回應才想到好像之前忘記聽誰提到過有這樣的 "偷雞" 法...
1 r$ G  n. ?0 q( i* m3 R% x6 R9 l- Z嗯...如果是這樣確實可以節省很多面積, 用 metal fuse 的話也不用擔心
: `* S  Z0 c' h. p# w" {; P' L水氣累積的問題 (D/S 後 trim pad 都被切掉了..)3 [" ?! ]. M/ M0 s/ |

/ {% E* R- u/ a: D不過 ATMEL 應該有他們自己的 foundry, 自己想怎麼搞都行...
3 G4 x# t9 P+ C手邊正好有個新 project 在進行, 看來是考驗我們跟 foundry 交情的時候了...
9 G6 ?( _& e5 z7 ~0 u$ X/ p' f呵呵...
" G2 {' X1 M% O% d" y! \  k" h0 Z' S# R
順便 update 一下情報, 後來我把 trimming stress 提高後 trim fail 的數目
5 R9 U0 |' y! C) ]1 p# h& Z# i3 b就減少許多了, 不過因為只測了一兩批, 這個部份還會持續 monitor...
10#
發表於 2007-8-10 11:51:15 | 只看該作者
請問 各位高手 + S, w3 l! B6 y  [9 ^1 x
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?
% ?  x7 T& }$ d  x2 N) `+ F謝謝
11#
 樓主| 發表於 2007-8-17 18:04:56 | 只看該作者
原帖由 wpwang 於 2007-8-10 11:51 AM 發表 ) K3 G1 Y* O% o: c
請問 各位高手 ! V7 q$ T1 A4 ^
   是否有人試過 trimming pad 與正常pad 共用?  方法是什麼? 有哪一下注意事項?) K* S0 W3 z5 o0 B0 i
謝謝

: D9 z' M2 }% z& u% R8 `5 h, h" J9 Z+ R6 k8 E" q
您的共用是指用一般的 I/O Pad 來當成 trimming pad 嗎?? 還是說一個 pad 可以跑信號4 ]6 j& N, Z/ _9 @3 ~# }0 W
又可以用來 trim fuse??
3 R' G* `1 T7 l9 `% ?- o3 n' ~4 w. l8 v/ M" y8 F
如果是後者應該是不行的吧....- g! W* f' ]6 d9 A) e' Q
如果是前者應該也是不行, 因為一般 I/O pad 上會有 ESD 電阻, 會限制你 trimming 時的
% Y  F! m; k) T( S2 [- H6 G電流, 所以一般大概都是另外畫一個 pad 給 trim 的 function 用...
& f" i1 ]& `+ M0 B7 `1 e
8 G5 Z4 k2 E1 b4 C/ c6 L不知道是否有回答您的問題.......

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12#
發表於 2007-8-22 13:04:35 | 只看該作者
有一問題請教,一般 metal/poly fuse (漏斗型橋接)的 trimming 效率以常理推論 , V/I source 只要題供的能量足夠,均可以燒斷!5 m; e2 v( s/ E$ w, L* J. y3 Q# n
最近有個 case 是 metal fuse , fuse 欲燒斷之橋接處呈 30~45 度橋接; 此形狀的 fuse 在trim 時電壓不能過高 ( typical 2.5V) 如超出個 200/300 mV 會造成trim完後又熔接的現像!!!..........真是無言..... $ L: n3 P9 i2 p; l
不知那位好心的大大可以幫忙分析一下可能的原因?
; z" y) A; V. ~8 T先感謝啦!
13#
發表於 2009-3-6 22:17:43 | 只看該作者
不曉得您是不是問這個問題
6 Y- n* m2 U5 h+ t7 U. x1 H, k2 h' _; E8 G. g1 ]
我們家有的產品 trim pad 是可以 bonding 出來的
7 c4 c' ]" @7 l% g; r
/ h9 a' E. l8 t: V也就是 bond pad 與 trim pad 是共用的
" C; N  Q% z( n- E: Y' Y) v
5 Z$ G& a. ~* H[ 本帖最後由 redkerri 於 2009-3-6 10:20 PM 編輯 ]
14#
發表於 2009-3-10 21:27:17 | 只看該作者
CP 時請測試廠用氣吹一下正在trimming die,應該有幫助良率上升(要有開窗的poly fuse),
2 _9 k6 z  H% Y( c( O還有其偵測電路也是一個問題,因poly fuse,trimming 之後,可能呈open有可能呈高阻,且高阻trimming 多次也無用.
15#
發表於 2014-1-10 10:34:57 | 只看該作者
回復 3# ssejack1   s7 R" H6 L0 u- t

, n+ |7 v, G( ~! i% |  B  n' u/ b. O4 f& Z& {
    幫助不小, 謝謝!!
16#
發表於 2014-1-10 10:37:09 | 只看該作者
回復 4# kkk000777 ' S( e9 Q+ b* g" i
9 R9 k, N6 u* R; N
7 A0 o: }! |& y# T5 v
    封裝前要烘乾一次........很好的資訊, 謝謝!!
17#
發表於 2022-11-1 16:12:28 | 只看該作者
谢谢,学习了!!!!!!!!!!!!!
18#
發表於 2023-11-3 01:55:53 | 只看該作者
kkk000777 發表於 2007-7-8 11:07 PM) t: ~/ m' V: B. J  t0 ?
poly fuse ...
! @6 U2 S- l, o我看到的fuse 很少有用poly fuse% G1 `2 B$ D) Q+ ?7 n8 A
通常是用metal fuse...
9 d. _& S9 f6 z
, \& }) I9 J" Z3 b

1 F- i. T1 f) u( e4 s% [) h
很有用的經驗, 感謝分享..

4 Y5 Q) |3 e$ G" O+ H$ E. @
19#
發表於 2023-11-3 01:56:26 | 只看該作者
Good question!: `' v* D: ]6 x; }; f7 j/ o; w
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