|
成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,
& \2 `. Y. I2 ?愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能0 y, ^1 O" p( ^% c
力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
5 _: i/ q; d" H, ^, \4 a乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是
' F( F9 ^6 \5 A& }2 _0 o1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
$ E4 b9 r; U: N. y2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.3 q5 \( v' I* r% q9 s1 g: e
3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.9 y( q- |( Q* ~ z- n* u
9 o: B' Z8 ?1 z! H4 O
換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,8 a* n0 A" u; Y
但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及
$ [8 H2 i8 Q6 j/ f# H; Q9 V高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略.7 l3 H( x, x f- N3 [5 p5 i
- a! Q3 R4 U( a# F6 k+ @& v4 {另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG
0 O; `1 E, S4 {及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
& n/ p" M+ ]' h# W0 G+ u& j- ^也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
8 X! f! X" C# S8 e7 j3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件".
- y& A9 A+ ]6 A
8 J/ K% F1 M) i7 y愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶,
( t$ q, K, B" D3 e彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
評分
-
查看全部評分
|