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成也蕭何, 敗也蕭何
在SOC production test的世界中, 設備使用的"彈性"也是降低持有成本的必要條件,$ I4 c! ~3 w' u) b4 `) ]
愛德萬自原先專注的記憶體測試市場欲跨入SOC測試, 利用其Handler最大並列同測能
5 ^; Z: f5 H; [' C9 o$ @力(每次16個元件, 一般Memory Handler每次可測256個元件) 來提高效率並降低成本,
/ E3 {6 x, E# l" L# u- P8 B! R乍聽之下似乎超越現在的系統 (一般每次可測4個元件) 但是& P! Z8 `" I- L3 y l
1. 愛德萬的Handler並無法與其他廠牌測試機連接運作 (愛德萬不提供連線電氣規格), 設備投資彈性不足.
N4 g4 d5 ^* S2. 愛德萬的Tester無法與其他廠牌Handler連接運作, 萬一產品封裝格式M4841不支援, 生意也別想接了.
7 o: _) j6 J1 |3. 大型SOC使用高腳數大尺寸IC封裝, Tester I/O數量頂多支援同時測試2~4個元件, Handler再強也無用武之地.
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) c: @4 i% }3 L% D換言之, 中型腳數(<=200pin) 之消費型IC, 應該是最能發揮該系統每次可測16個元件高效率的目標市場,
: j* S8 ?; t3 T但是per pin 500Mbps or 800Mbps的高貴I/O又超出該市場所需, 開發低價200Mbps的I/O模組及. @0 {$ ^: T+ @4 n4 y
高速3.6Gbps高速序列介面模組(for few LVDS/PCIe/SATA2/HDMI pins)才是符合市場發展的策略." A3 U7 J5 P6 B, N$ U2 z; P: O* z5 G0 \
( a% j; i+ V0 u- p0 ` N, L
另外該宣傳稿未見SOC測試常見支援Video AD/DA測試之14bit HF-AWG及Digitizer. Audio band的AWG9 r& Z2 l6 I' u+ h2 s6 E
及Digitizer也不知resolution(18 or 24bit?)及noise floor (or SNR). 此外, 元件power supply channel數
* R6 z* w% w* { C也是重點, 一般SOC的pad power與core power電壓不同, 再把analog power分離, 一個元件就需要至少
, Y" t0 b& [% o% G# l3個分離電源, 測試機至少要能提供48~64個可程式分離電源, 才能達到宣傳的"一次可測16個元件"./ R; E% q, g. G" `9 j( \0 k8 \- y
( K$ }1 A. P& ?
愛德萬T2000被Intel大量採用, 想必有過人之處, 但是台灣測試產業面對多變的環境及各種客戶, * L+ R K% _& x+ x& {
彈性與效率是同等重要, 既然名為Open, 真的多open一些連接規格反而比較容易活. |
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