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Chip123 科技應用創新平台»論壇 › Chip1 -- 基礎元件 › ESD/EMI/EMC討論區 › EFT 快速暫態叢訊測試
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[問題求助] EFT 快速暫態叢訊測試

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1#
發表於 2007-4-11 15:08:47 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
EFT 主要來源是因為在電力系統中有開關瞬間所產生之瞬間高壓雜訊 有時甚至到達4kv
- H! S7 w2 n* K1 t- {
, h: D+ g9 G- f依據法規:IEC 61000-4-4 CNS13022-2
' c0 t6 X& J1 c" b; m% y, m7 C5 ]! z
其他我有做成的資料可以參考, ?/ ~6 l; |8 a- l
- t3 d) _1 @# ]7 M
[ 本帖最後由 cuban487 於 2007-4-11 03:30 PM 編輯 ]

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2#
發表於 2007-5-8 17:12:01 | 只看該作者

EFT

想請教一個問題) J1 K& W% c+ g
1 W7 b" ^/ F7 X: k3 o: C
我同事說  所謂的EFT   是指在AC端   以地線為基準   朝火線打一雜訊(KV)
7 q* y7 s8 B' y9 m1 Y/ ?
- n3 s1 Y. v* R7 y6 ]" y. m+ a) N7 H或是以火線為基準   朝地線打一雜訊(KV)
( e9 T, m5 O8 A& N$ u% p5 }! W. ?6 R( t1 G
是這樣子嗎
3 s- X, b2 ?2 X- y# A; Q* t1 a. m  Q! N
如果是這樣子   對我DC端的GND: O" B6 S/ q6 T  q4 n  ~2 x

) y+ G1 d2 s: a0 ]8 A& q' r+ S會造成影響嗎
$ o; N* |7 T" E; W! q) ]3 _
8 z* ?) Z) F( O- q/ p因為有一個客戶給我的報告上面寫$ [1 K& j7 e, O% P
EFT    VCC  1KV (指VCC打1KV)      GND   4KV(指GND打4KV)
: n0 R3 e5 H, [% V1 U" [5 |
- U8 {: z; F1 v( K: P這報告我就不是很清楚. N! T5 p5 x+ \* T0 b7 d* r
我同事說這不算EFT的報告
3 W% Z5 l% P0 T& ~是這樣嗎
0 j4 d+ l: {1 ?( d/ [
5 [- D% }' g( w4 U, L4 _" z# l
( \2 s# T" l% c* _9 p% |2 w一個EMC的新手尋求解答/ w! ~& V: J! h7 K% G6 |  l
/ E% O+ R. S! k: E/ d  _
謝謝大家
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itho
3#
發表於 2007-7-17 12:05:20 | 只看該作者
其實你同事說的這種方式也是可以測...( k1 A' C" Q  [0 v* j
不過Standard上所提的測試圖並沒有提到分開測試，我之前待的Lab是用L+N+PE一起測！& x( \9 c' A6 ^$ D* g
比較符合standard測試...

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4#
發表於 2007-9-19 11:29:18 | 只看該作者

回復 #2 victor78t 的帖子

EFT的測試是將測試的干擾訊號加載到AC Line上，有各別測試每一條AC Line，也有一次加載到所有的AC Line上
. t6 {6 y$ i) `$ ]0 j但看測試認證的機構的測試方法。我們自己在測試會先各別每一條AC Line先打一次，最後再一起加載打一次，每次60s4 u5 w- }9 q0 H. R, @2 X  ~  f( O2 y
一般的防制：1. 就看你的電源是否能將這個干擾隔離或濾除 2. 就看你的電路及零件的耐受性。4 F0 |/ P; {4 O( i" `  h
不管他是加正脈波或負脈波，若電源無法阻擋，則將在電路上產生高頻高壓的短突波干擾
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c630115
5#
發表於 2007-12-17 09:08:24 | 只看該作者
正好公司有相關的問題1 J! o  x  W2 q
好像不錯看的樣子 感謝大大無私付出3 M5 \5 Z+ O) e' V. h
趕快來去看
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6#
發表於 2008-1-25 15:39:26 | 只看該作者
最近正好想學習EMI方面的工作                                                            0 a% [1 I' c+ I
這份資料對我一個新手或許有幫助, Y7 `1 [& V/ h8 |5 P1 L5 t
Thank you!!
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小游
7#
發表於 2008-2-19 09:58:56 | 只看該作者
EFT我覺得對很多產品都是很重要的; [- s8 E2 k7 m4 X
但也是很多RD很頭痛的一個問題9 Z5 R2 R( h6 W% ?% H
感謝分享這麼不錯的資料
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8#
發表於 2008-2-20 01:54:39 | 只看該作者
EFT算是CE EMS裡面的耐受性測試之一，主要的目的是針對透過AC
  B: W! O+ w  m" z& s* y$ k. vline連接到外部為主(Ex.power adapter or 透過AC電源供電的設備)
4 ~1 p9 R; I& m! z4 F5 ~已法規上來說，對GND測到2KV就已經可以算是pass了，如果要更高，. l; e- T, @; `7 }: C
則是依照客戶的需求來做定義，至於DC的部份，法規上是不用測試的，% L* i: _0 u+ ^. f3 |  [
另外還有一種就是針對cable(一般來說超過1.5m且連接到外部)來做測試! k. v9 o  i/ g
，用外部干擾電壓以輻射的方式進行干擾
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9#
發表於 2008-2-26 00:34:40 | 只看該作者
剛好工作上有遇到~~4 i1 p2 E5 \+ a8 [& [2 f% p

4 b: u: n, Q5 ?; R1 [請問 這種規格一般都是指成品階段 ~~0 b0 g/ c) k/ @' o
那是否有講 die level 的 , 因為我是在IC設計公司上班的 ,  所以想問問 ,1 G- R; D& K* ?  x0 ^
因為就算是IC耐不了這麼高的EFT , 一樣可以從board level去解決 , ~~
. S2 \6 c" z: K/ J( n但是公司所賣的市場多是 die ~~~ , 所以有這方面的規格嗎??
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10#
 樓主| 發表於 2008-3-24 10:05:17 | 只看該作者
雖然法規沒強制定義DC部分& z3 C" x4 c0 o9 V
請問各位有人在测DC嗎??
7 O. H* b6 A$ Z3 `用來做公司的內部規範可以嗎??
2 z$ X2 g! O2 Q% M% HEUTED車燈,汽車電子儀表
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11#
發表於 2008-4-30 19:53:59 | 只看該作者
看過幾次EFT測是好像都只有打AC端
- I# x7 B& E, o4 x- T( e. t4 h" q我還沒有看過打DC的
; M6 @( Q. b5 K' R2 G記得有依次看飛利普的安規人員打EFT一個輪迴要打8個小時~~9 M  @& {* V9 o. M) ~  }
說是菲力普安規的規定~~' Y5 V  `' B! t9 K( Z. ^9 F: ^) q
真的要打這麼嚴格??
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wjinsuo
12#
發表於 2010-3-5 14:54:51 | 只看該作者
sigh,EFT是个大问题，感谢分享。
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roadstar
13#
發表於 2010-5-23 11:21:14 | 只看該作者
EFT測試只有打AC端，是指電源輸入交流電嗎?
4 x3 C& F$ W9 z$ r1 k4 y9 a0 ?/ v可是我們公司ic都是使用DC電源去做測試，
0 C7 a, S; r  \& K這樣會有什麼差異嗎??% R0 U9 h" M% a/ z& x( w% ^# P. A8 z
謝謝各位大大的分享。
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14#
發表於 2010-7-26 18:39:37 | 只看該作者
感謝大大無私分享歐  真是太棒了  趕快來參考看看
$ h$ D! m- Q& n" M9 i! B- B電磁相容設計  真是一門很大的學問  尤其是它又看不見' ]  F" U5 q# n% k9 V
一定要累積經驗
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oscargo
15#
發表於 2010-10-6 19:09:58 | 只看該作者
感謝你無私的奉獻----已經悶好一陣子---一直無法突破
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16#
發表於 2012-3-7 09:56:33 | 只看該作者
應該是看產品應用，有的產品的確是會測 DC
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Horse桑
17#
發表於 2013-6-4 13:18:42 | 只看該作者
近日公司產品也在過EMI EMS之安規# S7 C; \2 J( I9 m# k5 Q

" X# [7 c' [. p遇到EFT測試時,卡關了 !
: g, {. `& ~. o( Y- ^0 m' |) y& N4 d! N
EFT由電源端進入後...MCU之USB Port與電腦端之通訊會受到干擾..不知道要如何下手來做防禦的動作
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digwu1
18#
發表於 2013-8-12 14:26:00 | 只看該作者
謝謝分享~推推推推推推推推
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19#
發表於 2016-10-17 16:45:23 | 只看該作者
來看看大大的分享!!感謝你的無私
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20#
發表於 2021-8-25 14:42:43 | 只看該作者
受益'良多
6 K' v; W. \' g% P% z+ c* S1 p/ {4 K
謝謝大大的分享!!!!
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