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[問題求助] 針對IEC6100-4-2的on-chip ESD 保護設計

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1#
發表於 2008-12-30 15:56:44 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
5 S% f0 o( S. O) j1 o: X有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計?
6 H$ x( F+ P2 M9 s* u( M我個人認為當IC 啟動的時候,所有ESD Clamp 和ESD diode 是完全在關閉的狀態,所以即使hbm過了+/-4kV,system-level亦不一定過+/-15kV6 X0 G6 p# E0 |5 ]  `
我的想法正確嘛?
* F( \. {2 e# H0 W( y謝謝....
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2#
 樓主| 發表於 2009-1-10 00:40:29 | 只看該作者
好像沒有人遇到這個問題.....
/ ^% z5 X) S! B* i9 S) P這兒有沒有人負責IC ESD 設計?
3#
發表於 2009-1-17 10:54:01 | 只看該作者
System-Level是說沒有機殼的搭配嗎
6 J) x) o+ U; \5 D) A目前這樣的問題+/-15KV也是diode的設計基本值了$ ^' w) D& r; r2 g" G) |) R
所以越好的diode啟動保護越快效果越佳
6 L3 g/ }( Q% p但因為是limit值所以會有穩定的誤差值" M; @$ `9 w' X6 Z. Z5 w, {' ?
大部分要搭配機構去防護
4#
 樓主| 發表於 2009-1-19 15:09:34 | 只看該作者
是呀, 沒有機殼的搭配, 只是加上一些PCB的external component,我們的客戶說打ESD GUN 是把我們的IC被打死,要求我們改善.
9 ]* Z9 e+ U* d+ G請問你所說的didoe 是IC PAD 內的diode,還是IC 外的TVS DIODE?9 J# ?9 A; Z. o) e
客戶不用TVS
5#
發表於 2009-1-20 16:04:30 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2008-12-30 15:56 發表
7 F# _, g1 A& R% ]請問如果我的IC本身已經達到HBM +/-4kV的要求,但是當客戶在system level上打ESD的時候IC內部的電路有部份電晶體被打壞,那麼我還可以做什麼?
1 W9 |7 v. d% c* H2 G; K有沒有針對IEC 61000-4-2 的on-chip ESD 保護設計? ( o. R7 v" N+ w$ U) E4 W3 G
我個人認為當IC 啟動 ...
' X' O$ w% j! q  c% m/ n0 R" Z
/ J6 r* D& ]/ M  \1 \! f# P5 O
我有过这方面的经验,我们的片子hbm-6k没有问题,system level 15k也没有问题,外部没有加任何的钳卫器件。不知道你的片子里面用什么样的结构,不要用gcnmos,ggnmos可以用但是目前看来效果不太好,scr的效果很好

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semico_ljj + 2 + 2 对大家有帮助。

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6#
 樓主| 發表於 2009-1-20 18:56:37 | 只看該作者
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了/ p( F, |7 ^- p" ~5 v& H1 F
ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS
7#
發表於 2009-1-20 21:08:46 | 只看該作者
"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
8#
發表於 2009-1-20 21:10:46 | 只看該作者
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。
9#
發表於 2009-1-21 11:42:24 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-20 18:56 發表 5 j. i9 [7 Q# f
請問你有沒有做一些ESD detection 的circuit? 我們做的是mix-signal, 很多時候打system level 是IC 當機.. 我可以做些什麼? 我的片子那麼好... 我們的有~100根pin,要達到4kV已經是很好了
* l+ N; z0 E4 Q$ F3 z" b  {ESD protection 則用PNDIO  ...
8 T/ Y0 M: }6 a( H! P8 Q4 E
我们的pin比较少,没有像你们的那么多,不过那个成功的片子用的是scr结构(完全利用其击穿机制,没有加任何的detection circuit),是自己做的,代工厂没有提供相应的参考结构,现在已经量产,也做过相应的latch-up实验,并且pass.不知道兄弟用的什么样的结构,可否详细的描述一下,如果可以,我愿意尽自己的微薄之力的。
10#
 樓主| 發表於 2009-1-21 11:53:47 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:08 PM 發表
7 x7 b# ^( y* Y, u"ESD protection 則用PNDIO + RC-GTNMOS",这个是不是代工厂提供的标准IO?
. e4 \0 y$ n. |+ t, C: d5 l4 P
這是代工廠的建議
9 k% }, J+ M/ b; |而我們則覺得它是最省空間, 我們的ESD design 全是custom 的, 沒有用代工廠的標準IO library
11#
 樓主| 發表於 2009-1-21 12:02:24 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-20 09:10 PM 發表 / T2 X: F) u( i( J
SCR是不错,但是几乎所有代工厂不推荐,也不提供,LatchUp可能是主要问题。SCR研究的很多,主流量产产品好像不多见。

8 w6 P& E+ m1 n7 J" E( JSCR放電的能力是非常好,但它對Process的variation亦非常敏感,所以我們都不會用..大家亦不希望量產時有任何失誤而賠錢...做研究就好,用在產品就免了
: J+ }& b0 E2 S2 K! S但我聽說大陸有很多的設計是用SCR的
12#
發表於 2009-1-21 13:30:29 | 只看該作者
SCR也试着做过,HBM效果很好的,但是不敢推广!呵呵,“Process的variation亦非常敏感”,想挑战8KV以上的可以尝试! C- Q' n8 Y0 ~6 y
) y7 K% ?7 T* n3 h1 E
[ 本帖最後由 semico_ljj 於 2009-1-21 01:40 PM 編輯 ]
13#
發表於 2009-1-21 16:45:25 | 只看該作者
关于芯片级的esd,我们同一个片子做过ggmos/gcmos/scr三种结构,也有过相应的验证,HBM8k没有问题,但是拿到系统级上面,ggmos/gcmos无法满足客户的15k要求,只有scr结构能够ass,而且我们选的工艺比较稳定,所以选用了scr。个人感觉,pass15k,常规的esd结构很难,其中gcmos的结果最弱(有实验证明的),ggmos居中,scr最好,关于PNDIO + RC-GTNMOS,我没有用过,但是根据别的项目的经验,貌似想pass+/-15k很难

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semico_ljj + 3 + 3 细致。

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14#
發表於 2009-1-21 20:38:01 | 只看該作者
代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。/ {  S0 U; b! |, x7 h8 l" L
“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开启速度比ggmos快,应该比ggmos更好才是啊。SCR当然是最好的!7 J, |0 r$ k3 e
pass 15K 是什么标准要求这么高啊,以前没做过。
15#
 樓主| 發表於 2009-1-22 11:02:33 | 只看該作者
原帖由 semico_ljj 於 2009-1-21 08:38 PM 發表
* }$ }) ^8 Y. z. g9 e) ]4 b' n代工厂普遍采用“PNDIO + RC-GTNMOS”,不知为什么?当然还有只用Diode的。是不是这种结构最成熟稳定。
+ i, B, l6 g( u  [  |( t, s“gcmos的结果最弱”倒是不清楚,觉得gcmos开&#2155 ...
* v& ?! [: m; G
如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右.4 r# t0 K2 z+ ]5 u! P5 ?/ R
; B! C# j2 c+ s. f* o& p6 k
15k 是IEC61000-4-2是system 上的ESD 要求
% _+ l* x( k/ N$ ]% b' uAir discharge 一般要+-15kV
, G6 }# j# H- nContact discharge 一般要+-8kV
4 K  j0 @3 Y+ k' N這個跟JEDEC/ESDA 的HBM standard 是完全不同0 \4 `# t% u! U& x/ v6 L

9 U2 M" T1 J6 B! K/ {* R- ]  `[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 11:06 AM 編輯 ]
16#
發表於 2009-1-22 11:17:29 | 只看該作者

回復 15# 的帖子

"如果只用diode而沒有其他的power clamp, 那麼在打VDD PS mode 就需要透過diode 的reverse breakdown, 這樣的話ESD的抵抗能力一定會只有幾百伏左右."这句话有误!实践证明,foundry提供的只有DIODE的标准IO,可以通过至少2KV∼3KV以上!到了亚微米的工艺,厂商就是推荐直接采用Diode的ESD保护。# [8 F4 _, a( e- f! p, v2 Q
Diode到底好还是不好,大家可以进一步讨论。
17#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:30:20 | 只看該作者

回復 16# 的帖子

那就奇怪了$ V" n) G8 u0 ~
我對標準IO 的了解不是很多,所以不知道它除了diode以外還有沒有其他的配套
* D8 P  d" Y& [5 [' Q; x5 h' `9 `Foundry給我們的ESD design rules都有提到,如果I/O 用diode 的話,一定要有power-clamp
6 D7 _, p; ]8 M+ e: D而在我們的產品內,power clamp 的設計就是GTNMOS
! n& b" Q% i' G; [+ @) r, g7 j
7 Y& G" M3 ~+ ^! ?: f4 G3 k6 F6 m[ 本帖最後由 ritafung 於 2009-1-22 01:42 PM 編輯 ]
18#
 樓主| 發表於 2009-1-22 13:40:34 | 只看該作者

回復 13# 的帖子

你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
) C' _+ ?6 J; D% y3 G6 J我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路: ^2 v8 r8 }( q
如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
19#
發表於 2009-2-3 15:43:49 | 只看該作者
原帖由 ritafung 於 2009-1-22 13:40 發表 ! T% _- Z8 r8 L) q
你的GCNMOS的電阻有沒有調效不同的電阻值?
& i# k7 U1 A$ k" n7 y+ _我們通常會先做一些test key,然後用TLP測試它的I-V curve而選出最小面積和最高It2值的T/K 來設計產品的ESD 保護電路
4 q9 d  p9 w. c( ?0 R; L如果沒有TLP,可直接用MKII機台打ESD
. K  T4 f4 f7 C
有调过的,在芯片级8k没有问题的,但是系统级就不行了。我们没有做TLP,自己倒是做了ESD TEST
20#
發表於 2010-11-29 18:48:26 | 只看該作者
System level ESD 與 Chip level ESD 是兩個完全不同的規範,Syetem ESD 也是模擬 Humam body model ,但是放電能量要比 Chip HBM 大了約 5.6 倍 ( 儲能電容不同,限流電阻不同 ),所以 Chip 要直接承受System ESD 的 15 KV,可說是難上加難,一般系統會用一些方法把能量導走,不要讓 ESD 進到 IC,或是加分立式保護元件,才可能過的了15KV。
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