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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?2 B. J/ M7 ^- Q" M% \' k
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
8 j1 s6 P) Q' F' a第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
2 u# V6 D, K0 o- Q第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...

! w( `3 W. D# o& `6 S
2 _% n$ f0 o! v) y, L0 W5 @我是这样理解的:
3 T7 {4 a8 U4 n8 O; F3 C第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏
; w4 X9 }) K, d' F: S$ j9 L: r第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;
# K" z# u% `, h  M: k9 a5 D3 E" j2 \8 I        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:: K6 p' p, a/ N4 _7 o
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
/ J  Q: J$ y6 U3 W- f  g2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
9 p# U0 b: |8 w- O3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;2 q5 D; r& ^+ \; h6 u8 K, {
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;5 k6 n) V1 J% h: S+ K6 s
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;* D: F; c; x7 g% ]$ }
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
/ V6 s0 @. X1 c1 _5 Y5 {  j; Z' ZVDD引脚只需进行(1)(2)项测试2 h7 ?2 c! ~- P9 B3 z! N9 X
: E: _7 m/ L* C6 J0 X  F
应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路7 j5 M* |& Z( P' I
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung $ |7 z' a4 H) I5 L- G  i( h+ [& i

+ r. l# J1 S5 n' Z第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
# W2 f* }8 B- P% v" j* V8 S; a# ?: d$ `: b
每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.
3 E* |9 r9 D+ M) ^- f7 u7 v1 `' Y& }/ {, b4 ^; Q
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。! E; D  @# a# N- ^! D5 a3 {

! j7 ]9 j7 V6 ~: r, i! A只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。& g. l. H2 z! e; t6 X& T& c
每一个power pad VS. 每一个power pad;
" n3 S( X2 v. U# ~0 Q每一个I/O pad VS. 每一个power pad;
0 b5 p0 V8 w3 c: K: A每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章
' B0 T3 H3 t4 T+ ^: R' i對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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