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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
4 L: d! [4 x. T7 W3 ]! C, Q5 ~* _! u第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表 - f0 }, [/ |, Y) E8 b2 C
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
; h4 F9 E+ Q8 M7 n1 Q+ {第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...

- L7 w4 H' M% t1 H8 x
. L; ^2 H, Q: E我是这样理解的:* S5 \0 W  }. I% T
第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏1 n4 D0 A9 X9 J3 b1 N% t
第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;  \9 N+ h6 C, R) k6 ^
        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:) g# h# X9 a' Q% z7 H  u
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
" E8 {0 A0 O" p  q4 B2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
* k2 N  Y; j2 O% q. g; n3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
& [9 s5 x5 q3 P3 W, W4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;. z* h2 c1 {* ^: ~& M0 i
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;
6 P$ Z' @! l) l6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。2 ?! D$ \! F  M2 k/ f6 c
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试7 L& H2 _+ K0 Y" A' ?' u
& v8 f3 s9 U; E
应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路3 G) j' [! D3 A+ Y. s
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung
, g  @  f& ?5 a/ s  Z& Z/ s% J0 O4 W0 t4 ^/ w  c, O
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
$ G5 J' |* F, {( z, J1 Q
! Z. l* p% X+ a$ G' \3 j& r每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.; G9 e7 b0 t& B( S) o" c4 _

$ ~1 \8 w: _8 M- T第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。# w2 j6 X7 p' e

$ F& O+ B6 k; ^0 E+ ?  t只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。( @4 l5 W1 B5 A; H  F3 e+ R1 L
每一个power pad VS. 每一个power pad;$ Y* O+ T3 C7 L* g
每一个I/O pad VS. 每一个power pad;: n% e( w2 a' S+ ]/ G! l
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章
; Q# p8 o" e" T2 X" u# L對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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