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进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:8 V* l( g, h# i$ [
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
9 p0 z s! w7 S6 |2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
: n" u8 H; ?# p P- ]# c3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
8 v/ P$ z. ^ L3 }6 C4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;, y# W7 ]3 n# t
5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;: C8 ], ]- b$ _9 W
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。! o3 Y: X+ O$ |: ~3 H
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试) n# f4 o7 k _3 K( e0 A
8 M( V+ j8 f- B% l" R应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。 |
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