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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
  v% m4 D( R4 _5 b; h6 y第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
6 ~- J1 p3 K6 r2 u第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
- i, _; `& S0 S* I, o, f/ U4 t第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...
+ g  T" f. \3 l5 M7 j

7 S: d! _+ }; B/ }我是这样理解的:: `2 k; S+ f5 s" s3 a- n
第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏
( x: O/ \' W# x) E4 ]7 w第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;' ^& f# ?4 V) M1 k; j) ]
        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:
0 z* n% @" G* t5 v7 l( M  }' s! P1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
* P4 \1 S2 K# s' C1 h% r& J2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
) W- c" r1 Y$ ]9 o) m4 m4 o3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;; d3 T; D7 ~$ W  M
4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
; L9 J+ a! ?1 K5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;
0 C2 |4 l% e# w6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。
7 J' V) b* K0 L; hVDD引脚只需进行(1)(2)项测试
* V/ C: N, y& ^' |; b$ ?- z1 M9 |  F( s1 U$ `3 Y' t8 h
应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路  S3 w8 a8 H' B1 o2 u
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung
( _4 L# j& R. c
$ E" Z% Q. m  O) w2 H- N) f. r第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?0 t" X1 @% K; @' Z* i7 {3 O
9 N0 C# l" f* C
每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.' L0 G! t9 j6 u, f" T/ r
/ W' d! b" u8 y) e4 I( j
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。' l+ t; X7 R2 Q

3 N: Z; S0 P! _3 I1 }) ~只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
: P9 \7 ^5 q# X/ W3 l' N! K  t" G每一个power pad VS. 每一个power pad;
" ~. A4 n% `# o4 |5 o+ s% k. x每一个I/O pad VS. 每一个power pad;' A  s( k/ `4 k1 z3 a
每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章; a" ]9 @/ ?. E& [* L$ h7 e
對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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