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进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:% h8 j5 l G/ Q s* P
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;* x! l8 a- X7 R: l" I( [( [
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
+ b# ?, ^3 k( F3 t8 _" M) W2 c }3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
3 W2 O$ J; v( y, {& o4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
* j7 p' t' a5 `1 [' t4 G. f2 a5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;0 d+ J) T( _! z7 Y1 V w
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。9 Z: Y- F3 A F$ _
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试
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应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。 |
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