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[問題求助] 請教兩個關于ESD的問題

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1#
發表於 2008-11-29 11:40:06 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
) V* v; c, b1 \" K; J$ E7 e6 l5 ?第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試
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2#
發表於 2008-12-2 21:21:42 | 只看該作者
原帖由 hvpower 於 2008-11-29 11:40 發表
6 s0 M0 m) [, F# W第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
' c2 E% ~3 Y8 U5 [' X5 s第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一 ...

0 \  d' j/ Y' o
0 ~" b" h9 \6 M, U我是这样理解的:% {% C( D5 I1 G) q5 J! E3 _* M
第一個:输出PAD也要做ESD保护,否则这个NMOS管也容易损坏
* n: R9 D* ?, P第二個:这是根据ESD测试标准来测试的,引脚由我们提供,测试公司只负责测试;
0 X  |1 G3 z/ k. \        我们选择一些具有一些代表性的引脚出来就可以了,不需要每个都测试;
3#
發表於 2008-12-11 13:56:32 | 只看該作者
进入芯片的静电可以通过任意一个引脚放电,测试时,任意两个引脚之间都应该进行放电测试,每次放电检测都有正负两种极性,所以对I╱O引脚会进行以下六种测试:% h8 j5 l  G/ Q  s* P
1) PS模式:VSS接地,引脚施加正的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;* x! l8 a- X7 R: l" I( [( [
2) NS模式:VSS接地,引脚施加负的ESD电压,对VSS放电,其余引脚悬空;
+ b# ?, ^3 k( F3 t8 _" M) W2 c  }3) PD模式:VDD接地,引脚施加正的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
3 W2 O$ J; v( y, {& o4) ND模式:VDD接地,引脚施加负的ESD电压,对VDD放电,其余引脚悬空;
* j7 p' t' a5 `1 [' t4 G. f2 a5) 引脚对引脚正向模式:引脚施加正的ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空;0 d+ J) T( _! z7 Y1 V  w
6) 引脚对引脚反向模式:引脚施加负的:ESD电压,其余所有I╱O引脚一起接地,VDD和VSS引脚悬空。9 Z: Y- F3 A  F$ _
VDD引脚只需进行(1)(2)项测试
4 h* A& U! r, _) l5 d2 L& \+ w) _# C  K
应该是one by one 的测试,管脚多的话,排列组合就多,很费时的。
4#
發表於 2008-12-11 13:57:33 | 只看該作者
第二个:ESD测试都是有参考引脚的,也就是说某个引脚的ESD测试不是孤立的,而是相对于某个引脚的ESD电压,通常是对电源和地。因此,ESD测试都是一对引脚一对引脚地测试的。ESD测试还有不同的模型,如HBM,CDM等
5#
 樓主| 發表於 2008-12-22 13:50:21 | 只看該作者
THANK YOU  ABOVE  
6#
發表於 2008-12-22 18:30:52 | 只看該作者
It must be tested one by one.  Or you may miss something?
7#
發表於 2010-1-12 18:22:13 | 只看該作者
1. 只要是有跟外界接觸的針腳都要加ESD保護電路; O2 X& \) }% b8 E# Y6 ?
2.每隻針腳都要測試 一根一根來你可以看JEDEC standard 
8#
發表於 2010-1-20 16:17:25 | 只看該作者
回復 7# wesleysung 8 `' K! {+ F7 ?4 V" _% N
! b/ @4 `+ }# D' V, C
第一個: 輸出PAD需要加ESD不  比如 NMOS管的漏端作為電流鏡�流輸出的接口。這個PAD要不要加ESD啊?
; Z) G& ^- p/ `- [4 B+ q+ e2 _
! w/ `" N' K8 w每一个与外界相连的PAD都需要加ESD保护,无论是input,output,power pad.
5 _4 O$ |: Q3 U  Y  l9 s* l4 M1 v: O+ h0 y7 s9 I" q7 j
第二個:工業上測試一個芯片的ESD的時候 是同時在所有的引腳無論輸出還是輸入加電壓測試還是ONE BY ONE的一個一個的測試。7 A3 ?( i3 I: O- z' t/ P6 V& B

1 F; \' `2 A8 K+ I只有严格按照JEDEC 的测试要求才能准确地反映IC 的ESD能力。
3 W! B; G" B: h( b每一个power pad VS. 每一个power pad;
4 n; R8 _6 K( W2 v3 b每一个I/O pad VS. 每一个power pad;
: [( V7 j! ~; E4 \! ]/ ?& [# D每一个I/O pad VS. 每一个I/O pad
9#
發表於 2010-1-20 18:45:12 | 只看該作者
看了這些文章
  J- z! F! c) l3 c6 s對esd protection又有進一步的認識了
10#
發表於 2013-7-15 17:11:15 | 只看該作者
每测一次,都要换新的IC吗?
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