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原帖由 tshiu 於 2009-3-31 10:51 AM 發表 1 T' O! x6 p7 X+ B- P# A
目前我是使用1 of n decoder解碼原本的thermometer code' |% h0 z$ C! {+ O) e" g
再加上rom based將1 of n code解碼成quasi-gray code6 v, Y* E% u& x2 S7 m( W1 l
再將quasi-gray code解碼成我需要的6bit binary code
; M# ]' q2 w' A( M. q% \2 m: {% e. d- G, j但是這種解碼方式似乎速度不夠快) A3 U A8 ?8 x: O
請問還有其他 ... / \2 q) L5 J3 J$ O4 x1 b
關於"此解碼方式速度不夠快"這論點應該以latency會變大來解釋會比較恰當。
) G" Y5 @/ T; k: ~以flash ADC為例,其速度快的原因,在於每個clock cycle(即1/sampling frequency)都可以進行一次對輸入信號的量化(quantizaiton)工作,同時也可以提供一組新的output data。但這並不代表,此每筆新的output data就是前一個clock cycle所得到的sample data的量化結果。
# U3 [( v/ i9 N5 l4 l" o. C
/ p" m. l: _. o" F# `舉例來說,假設目前的input signal被sampling clock取到某一個輸入電壓令為S[n],並進行量化工作(comparator array工作 => analog to digital conversion)。' X5 F5 |3 R9 n% F$ I7 |9 y- p
當下個sampling clock來臨之前,若此flash ADC已將S[n]轉成D[n](此D[n]為output data,且為binary code。)。1 \1 i( `6 `: N5 D; ?
則我們說,此flash ADC的throughput與latency皆為"1"。8 A0 e6 ]9 w/ O2 T! S; O
同理,若S[n]轉成D[n]需要經過3個clock cycle才能完成,此flash ADC的throughput=1,而latency為=3。
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! d7 S' Q. m; K: W z( k- R因此,即使thermometer code->1-of-n code->gray code->binary code需要進行三種編碼過程,只要將D-type flip-flop插入其中,進行適當的分配(combination logic若propagation delay > 1個clock cycle, 則可插入D-type flip-flop將combination logic切割成數個區塊進行處理.)其實並不會影響flash ADC throughput。/ L. q& _+ G' c& \7 ]% L
g3 d; D2 u0 U2 m, e: y除非flash ADC是用於回授系統,故對於過大的latency無法接受。(假設,flash ADC是用於回授系統(例如:sigma-delta modulator, 一般僅需4bit Flash ADC即可.),通常要求的解析度也不會太高,故encoder的proppagation dealy不會太長,是可以以滿足lateny=1的要求。)6 S3 z" M1 L7 {; X
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通常一般的通訊系統中,ADC只是作為analog front-end與digital baseband之間的一個串聯的資料轉換介面,故對於latency>1是可以允許的。 |
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