逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
- E- _5 K7 O# _6 [9 C; T時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
: P0 Q/ N& G) b8 P, ?/ {' S(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
7 s! q; T- q1 x0 J地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
- o7 _5 C5 k9 ]3 D, l+ k         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
, X- A6 M5 O6 {7 L         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
% I5 d# L) {' `5 t; `0 \8 `) b洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
$ v$ E6 d; v& f, ?1 ^97年11月03日 (星期一)
* G7 E. Q% o* Q. @5 `時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
( }, j+ W+ Y; M2 C9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
3 \# N8 ]4 X$ ]# h3. EMC之原理分析與設計技術簡介
: |# D$ b& h# D2 x+ p, e- Filtering
- Shielding
- PCB Layout
7 ~" C; T7 ~% m& |4 y% W2 F/ \) v5 B4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
; `" c- o, l+ `$ z. R- Measurements for Signal Integrity
! _7 e, Y5 y/ L" `- Multi-Gigabit transmission over backplane systems

4 O6 i& g7 W5 ]! w
97年11月04日 (星期二)
6 Q7 P1 E5 x) }+ ~2 @
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
7 S8 i  ^$ e3 {- Q0 k* j內容包含:
, F) U. j: ^5 j  E' w3 P電磁模擬範例分析
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
•        WBFC Modeling and Simulation
8 ^# q6 h9 t+ {1 K' P•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- c$ q9 D* ], c! k  I- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
$ v1 l4 \" H9 K* H�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
, O9 h( Q; G/ J5 @/ x- K�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
7. Trend of EMC issues on chip-level
; A$ v! c5 R/ R! U2 ^9 m* Z8. EMC design trend for chip-level
7 t$ v* E2 u( A1 o$ u- ]; w: Y97年11月05日 (星期三)
9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
. ?# o2 k' }. L* M: P內容包含:
1 X- T$ R9 ^: j" P: c9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
" Y, @# f$ D. J5 b/ |, i0 k# L11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
$ S1 B8 Z! c3 A4 I( x•        Loss Mechanisms and Their Significance
& B% N7 K- T$ P1 I•        Limitations of Present Methodologies
•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
4 f6 ^. J4 ^2 f; Q  J* ?, i•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

) q4 p, d0 |; \至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
: i& i5 `1 a6 e  `8 s& }- ?
/ E6 R( X8 g/ M5 D- n至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

好方法
% b2 S5 ^0 A6 ?
可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
: r: W0 k% f' e
, D5 l2 D* t0 Y1 X1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
7 X7 E6 ^* s' J# s0 F3． 反射產生原因
7 }$ c3 I1 ^2 ]7 q4． 如何消除反射
& @+ k* L3 L  ]- }' D; I5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
) \, ?! u6 W! i- z* B6 |; d8 o7． 電源/地噪音的種類
- }# H. ^" w4 p* d; n8． 電源/地噪音的副作用
0 Z2 [1 X' }; C4 t" }9 \9 S8 e9． 如何消除電源/地噪音
- ^: a; H6 }$ l: V9 X/ Y( S10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！