逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
        活動內容：
/ N& m# s4 C9 m4 d( ?5 y* T活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
  ?, Z1 j; H0 ^0 R  u. e3 B& L地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
* U, a" g) y9 e% I         報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
: @* o; u2 R4 v4 o  n(2) 傳真至（04）3507-2117
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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主辦單位：經濟部標準檢驗局
* G9 L% u, X( d" p  q( A1 A$ G6 n承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
8 Z( W2 x7 D9 @2 S7 m7 f5 Y5 [洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
; i0 d% b4 _) N* U6 t& H97年11月03日 (星期一)
# l& r# y" e% d8 {時     間        活 動 內 容
8:30-9:00        報      到
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
% L1 p# x( |& t, K9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
3 e) T8 y* V+ s; U1 q& B: }- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
! N% z+ L  g+ O) W5 t3. EMC之原理分析與設計技術簡介
+ w: P3 Q0 ]  c. B- Filtering
' |, ~; l: x! u: ~2 ~9 w5 X- Shielding
- PCB Layout
4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
. U+ P" ], r# {6 k5 ^5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
1 W3 o' |/ ]' n7 h) O- Measurements for Signal Integrity
- ~- k  ]" o) h2 Y' `7 B1 j: ^: m9 t. H- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
+ x4 R7 a/ Z; e' x/ ^# ^  L

97年11月04日 (星期二)
( q+ E& D7 e$ B! U( e/ v
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
2 u$ [3 a, S* C) J3 q" {; f3 T內容包含:
% ~# j0 ~  D$ h/ D電磁模擬範例分析
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
9 X: w' ]! t8 U* m7 K! a3 u2 ~. _•        WBFC Modeling and Simulation
# @# d2 J3 E4 T6 y4 H•        MP Modeling and Simulation
•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
- Power Noise Study
; s, j* z) B" i( {: Z+ y- Signal Noise and SI Study
7 d* n1 O$ z1 ?7 y2 [6 Y, G- p�        Slit on Reference Plane
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
1 Q* @1 a4 }' Z) C1 B- m5 F# Q0 R�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
* `) N6 U7 L+ H0 |7. Trend of EMC issues on chip-level
5 s* {4 N& y8 Q& [( F& r# o. J6 |8. EMC design trend for chip-level
4 w% b4 r6 P9 |. p9 ?97年11月05日 (星期三)
( r0 w) U+ n( e6 B7 R% L0 R% U+ `9 i3 B$ y9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
0 d3 f5 r2 s6 U( e7 o內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
•        New Challenges in Modeling and Measurements
3 G4 u" K  b/ g& m•        Loss Mechanisms and Their Significance
+ H! G, U; {/ H: ^•        Limitations of Present Methodologies
' N" B  U$ p: o! ?/ f" o•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
. d( ^# ?. R7 b: d! G•        Production-level Process Integrity Monitoring
13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
2 s' m! u5 o4 @9 o* F
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
: P  B, @% y* T4 a; G' |4 `5 b7 p- B! f給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

; L) s' _5 A( X) W3 |4 O1 K5 E至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

9 w5 h) m3 o% Y5 G' n
; P. `: A) O0 e% A* F9 z好方法

可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
* x9 i+ n+ G; j5 {. D
1． 上升時間和信號完整性
2． 傳輸線的種類
# o8 D/ }- }: L3 L) X3． 反射產生原因
4． 如何消除反射
- c/ i# z4 ?: a6 B3 @5． 串擾產生原因
6． 如何消除串擾
4 {4 I* T% G  [# G3 C  Q6 z; e7． 電源/地噪音的種類
# n8 O0 r( n* o, W  r/ {4 G9 \8． 電源/地噪音的副作用
. X7 Y8 U" X- U8 B- u9． 如何消除電源/地噪音
1 |! n# J/ |: a) r: U1 }10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！