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[好康相報] 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

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1#
發表於 2008-10-13 22:35:36 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
- G  ^/ p" c5 m         活動內容:
# M* S3 B; x: f6 c9 r活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)4 d# N6 p+ b5 V6 h9 J
時    間        (一) 08:30-16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程/ z6 w) G4 k. g) I. V- A7 O
(二) 09:00-16:00: 訓練課程3 R7 u0 m% C# [% j
(三) 09:00-17:00: 訓練課程及綜合座談
' w5 ~) i1 c; G4 l地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)(名額100人)1 c: C( N8 X0 m1 f0 `( I4 d
        截止日期:即日起,額滿為止,名額有限,敬請儘速報名,以免向隅(名額100人)
8 K/ ~2 ^- P" Z; n$ D. c         報名方式:(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw8 P! u7 e0 Z( r6 ]2 J% W+ n
(2) 傳真至(04)3507-2117; e, y  z: Q8 n4 k4 t8 k! N0 g
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
/ b, f  D4 ^( N) w/ X         本活動完全免費(並提供上課講義),敬備午餐及茶點;歡迎踴躍報名參加。
, f1 w9 v5 g* M# Z! Y3 n********************************************************************
# `8 ^/ t5 z9 I$ z) M- n/ n0 P( D; `主辦單位:經濟部標準檢驗局
/ y, ~& g: g0 n0 N  T承辦單位:逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心/ r0 ?, f( {+ N2 v( z# U5 T3 ]
洽詢專線:(04)2451-7250轉3882 粘碧純小姐
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9#
發表於 2015-5-10 12:20:20 | 只看該作者
很好的资料,谢谢楼主的分享!
8#
發表於 2015-2-12 16:05:45 | 只看該作者
听过林老师讲的课,受益匪浅!要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。
7#
發表於 2014-12-25 10:53:59 | 只看該作者
希望能夠再開課一次   ..............
6#
發表於 2008-10-21 17:26:14 | 只看該作者
硬體測試技術中,電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼?
: ]% [7 z2 Q( p. s9 v! S+ C9 I  z. P6 [0 M" z: r
1. 上升時間和信號完整性: Q9 [5 V2 k) o' Z$ A& @
2. 傳輸線的種類
0 z% @. M& `, g3. 反射產生原因4 R" K$ k* I/ B9 q
4. 如何消除反射
2 g+ Z8 o. g1 L3 y5. 串擾產生原因# Z7 l6 z3 K. Q: @7 O  c
6. 如何消除串擾
! B# ~  [" c, s. k9 K' ?7. 電源/地噪音的種類1 k. Q% R6 m4 E, |( z! A- h
8. 電源/地噪音的副作用+ F# O& i3 A# I) j8 f) |, c
9. 如何消除電源/地噪音$ M3 N, R! E; h% g% y2 v
10. 電源/地模型
5#
發表於 2008-10-14 09:56:02 | 只看該作者
原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表 " A# d! k, n0 i1 q: H5 W3 Q
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉......., R) z( b: S3 S  n
" O, ?7 l3 V$ A/ A7 A. |# [
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
+ ]  z3 ^  f8 C/ X+ I- p

) I: |$ i. p/ }0 D. V好方法
. X  C& c8 t, }; n3 p) D
6 @- {! @/ S- l/ [可是還是要有人在錄才行
4#
發表於 2008-10-14 09:45:41 | 只看該作者

回復 3# 的帖子

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
/ m. m8 O/ z3 N- c! h% G" f) x
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
3#
發表於 2008-10-14 09:42:44 | 只看該作者
幫推~很想參加,可惜人在桃園
/ \6 @2 q- e; f回來又要寫一堆報告
2#
 樓主| 發表於 2008-10-13 22:36:43 | 只看該作者
車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
8 G3 G. o6 p/ j, E8 I' g, R' m8 Z! \97年11月03日 (星期一): E, h& L* Z6 Q6 Q4 c3 {2 e9 ~
時     間        活 動 內 容0 m5 x( y% V) _4 e# z  K* @
8:30-9:00        報      到
  @% z: L, P, a( Z. X- k9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
: k5 H8 C' {" `* O: O& ~8 V" q9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展4 Y1 g1 g* A( t* R& W; N2 y
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
+ ^1 F6 \% S8 G; K% z內容包含:
6 e* h# s! R/ B% \/ f2 q1. EMC問題趨勢的發生與分析" @( \: i1 \" F" Y; O
2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析: [% t* q6 @) F7 _. `$ u" [. l
- Platform noise effect- m4 Y; K5 i9 J8 A: f4 |
- Noise measurement procedure
) `5 x: _1 x) v) _# S$ q: K. t, {, h0 m3. EMC之原理分析與設計技術簡介5 c& B( \6 y4 B
- Filtering
- B: r/ r# X. y- ~, g6 l- Shielding4 F% J0 Q0 j4 S" Z- m+ n
- PCB Layout
) y: l  F& g* w5 X3 y6 C- j; N4. 電源完整性(PI)之分析與設計
- N+ y2 v3 v4 r- Power/Ground plane layer impedance measurement
' r/ Q% Y: i3 ?* y) C, O' j- Power Distribution System (PDS) Design
: ^& N0 _' o" A5 B  o5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
( N* z  r6 \* J1 P6 H/ U+ P- Measurements for Signal Integrity6 M, m1 `! S" S5 p
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
, u' A) Z: y3 e+ P4 g& Q  B2 b& x, I* G+ e

2 u; q9 [  [, g: E( B97年11月04日 (星期二)0 f4 {9 s$ _" {0 }
0 S$ C! Z  [* W' n
9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授; c% v9 r3 e/ A& M9 N: I( A: J
內容包含:$ a* D2 k8 x+ b, g8 [- H0 V
電磁模擬範例分析* ^4 f+ ?( A" y3 ?
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation( T$ ~$ t- D  D- o
•        WBFC Modeling and Simulation
! Y1 A+ I1 G% ~+ F0 |3 ~7 V; o•        MP Modeling and Simulation
8 i1 N4 }0 Y9 ]•        TEM Cell Modeling and Simulation
% G7 o$ {  \7 }6 j; P" S0 z! m- General Noise Characteristics
- V0 f: d( p( L; N- Power Noise Study& t: C6 r" ~- Z7 x: Z9 a5 y
- Signal Noise and SI Study
" n* U  v) H* k7 _" a, j�        Slit on Reference Plane8 u3 T& W9 Y# w% h) a0 {0 {
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
" h5 q6 c9 ~4 n# P0 t- F$ W/ ~- B/ r�        Reference Plane change! J8 \9 p+ x& Q/ M! e
�        Trace near the Card Edge1 T  Q' O$ G% {4 ^1 r' A
7. Trend of EMC issues on chip-level  ~  g4 l) Y- ?; y% ~. j
8. EMC design trend for chip-level
! F0 E" P1 R  K; \+ ]97年11月05日 (星期三)
- w) `0 z& @, w; l' y2 h. K3 W9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
/ N* O, S; X3 `3 p' ?& C內容包含:
7 r; E$ f6 W  }$ ]9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
2 D) ~$ x9 V- L% M6 k3 q1 y$ M0 E10. IBIS modeling vs. Spice modeling % R7 M7 p# H2 b, h" Z
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
7 e( _5 }1 {2 ^- }" \12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
, @3 b- ]) R# s7 z•        New Challenges in Modeling and Measurements0 F- l) K2 u( K( B5 c
•        Loss Mechanisms and Their Significance& a" s# P2 s  o( F3 R, B( r- x
•        Limitations of Present Methodologies
; ]+ }9 H0 c! {•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique. Z! w% f8 D( |
•        Production-level Process Integrity Monitoring / t; J3 _  m% N% |/ J3 w" g
13. 綜合座談

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