逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

Morgan

歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
9 B* v# c1 H+ B$ C         活動內容：
0 [# h2 H+ T1 C# P活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)
& f+ D; i7 U5 L6 s7 q時    間        (一) 08:30－16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
(二) 09:00－16:00: 訓練課程
(三) 09:00－17:00: 訓練課程及綜合座談
) l6 n9 e5 ?6 e* p地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)（名額100人）
        截止日期：即日起，額滿為止，名額有限，敬請儘速報名，以免向隅（名額100人）
        報名方式：(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw
(2) 傳真至（04）3507-2117
2 }+ B6 _8 d& k3 U5 L- \         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
        本活動完全免費(並提供上課講義)，敬備午餐及茶點；歡迎踴躍報名參加。
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% ?) j0 R/ }$ A) `1 t! O主辦單位：經濟部標準檢驗局
承辦單位：逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
* [) K6 m. g0 i" X# k$ I9 T5 i洽詢專線：（04）2451-7250轉3882 粘碧純小姐

Morgan

車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
97年11月03日 (星期一)
時     間        活 動 內 容
7 s% v5 y% P, |5 G: b! `8:30-9:00        報      到
4 y: @2 M( b6 G7 f1 W7 a9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
9 Y- Z& r9 I  g! D0 U. }0 Z$ i: g9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展
  O0 K) I' [# Q/ G9 j9 G主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
1. EMC問題趨勢的發生與分析
. m; d7 _& b. R5 `: f. s$ }2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
- Platform noise effect
- Noise measurement procedure
3. EMC之原理分析與設計技術簡介
- Filtering
- Shielding
- PCB Layout
& A. I) S% p7 T7 s) Y4. 電源完整性(PI)之分析與設計
% O1 x8 x. b8 A) `$ F, H. g- Power/Ground plane layer impedance measurement
- Power Distribution System (PDS) Design
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
- Measurements for Signal Integrity
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems
) j8 V$ k" B4 x) ?( [* C
, L' O, ?: z! u: P- E4 {
0 |1 C# ^$ s4 v; I# p7 U2 t+ a+ `97年11月04日 (星期二)

$ C) J$ H$ s' b8 O9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
5 s: t( b3 ~) s: r+ B* ^內容包含:
+ t9 M2 }' u  ~' y3 i. s電磁模擬範例分析
* z+ j  L# t8 i+ A& e1 V- L6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
1 w" D' n9 g5 P) e$ v•        WBFC Modeling and Simulation
•        MP Modeling and Simulation
1 }8 v2 e" K8 N& C; M/ x•        TEM Cell Modeling and Simulation
- General Noise Characteristics
+ h" Z1 k0 K! B  b' v- Power Noise Study
- Signal Noise and SI Study
�        Slit on Reference Plane
9 x+ x" W, @9 E1 j�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane
�        Reference Plane change
�        Trace near the Card Edge
7. Trend of EMC issues on chip-level
9 A. K6 M8 C7 v% W. G8. EMC design trend for chip-level
97年11月05日 (星期三)
$ N  p/ h" q" N6 S+ r9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
內容包含:
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
10. IBIS modeling vs. Spice modeling
8 p5 Z1 s0 _  k# m# u$ Z! I0 @! J11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
6 _* Q5 x$ m9 a•        New Challenges in Modeling and Measurements
•        Loss Mechanisms and Their Significance
•        Limitations of Present Methodologies
& {, R* X, g) \$ [/ i" J" V•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
' s0 J# F: a& q5 i& N8 j% b! p•        Production-level Process Integrity Monitoring
0 D* D4 z- x9 `4 a- w& b9 x 13. 綜合座談

andytang

幫推~很想參加，可惜人在桃園
& F) o# X' A5 X) w6 K: ~回來又要寫一堆報告

heavy91

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

; d- ?5 [1 f. m- F. p$ T2 J至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

andytang

原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
( e" n# }: ]/ @# e) z7 ^. H  s給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......

至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

好方法
+ ?8 @5 f* [8 D- \7 F( z
& M% M) H2 m2 |; P8 W# t3 L; j可是還是要有人在錄才行

jiming

硬體測試技術中，電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼？
1 _' N" U2 n( d/ g. h
1． 上升時間和信號完整性
/ a1 g0 j0 L1 D, G6 ~8 s& I2． 傳輸線的種類
3． 反射產生原因
  d1 m) T4 I9 U; Q; o3 V4． 如何消除反射
$ ~& X- a. @! L6 l0 ]# u5． 串擾產生原因
# @# ]* t( s- {( g- ]* h6． 如何消除串擾
/ |: i$ B: L3 [/ W4 |7． 電源/地噪音的種類
8． 電源/地噪音的副作用
8 ^4 D4 z' U( t9． 如何消除電源/地噪音
10． 電源/地模型

bape770101

希望能夠再開課一次   ..............

ESD_ESD

听过林老师讲的课，受益匪浅！要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。

alienwarejian

很好的资料，谢谢楼主的分享！