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[好康相報] 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

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1#
發表於 2008-10-13 22:35:36 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!
0 W# t+ X5 P" X9 z         活動內容:- _( i' w% t* s- S' Y2 _$ b  y, Y4 D
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)3 A. _. V$ P% g5 |
時    間        (一) 08:30-16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程
* j: _' \( R6 [/ C(二) 09:00-16:00: 訓練課程
: [$ t( B4 u- _2 X# n9 @' V& f(三) 09:00-17:00: 訓練課程及綜合座談
% z3 f0 x0 H/ c& L) v) e5 q地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)(名額100人): \2 e/ J" d( `+ Y: |! k: [0 w8 M
        截止日期:即日起,額滿為止,名額有限,敬請儘速報名,以免向隅(名額100人)
4 T1 P+ ], {3 q$ S# A/ J6 e         報名方式:(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw/ m; L: c+ e7 s# B/ K* R9 F$ f
(2) 傳真至(04)3507-2117; _2 `4 c- I; v. R0 \. n
        請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
4 f8 Q! ~3 L" ?+ z         本活動完全免費(並提供上課講義),敬備午餐及茶點;歡迎踴躍報名參加。- A# J& ]# |8 W' w6 o5 b+ ~
********************************************************************9 f& |$ |" }" D# B8 U
主辦單位:經濟部標準檢驗局
1 M* {! p9 ?1 }承辦單位:逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
, B! f- ?. X! ~  m6 n% J' n$ ?洽詢專線:(04)2451-7250轉3882 粘碧純小姐
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2#
 樓主| 發表於 2008-10-13 22:36:43 | 只看該作者
車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程
! [$ B  B# a+ u( F# v. w; t97年11月03日 (星期一)7 s3 |# W8 d' O3 |9 A0 S0 Y
時     間        活 動 內 容+ x* D  W+ c- {  _2 C, x: j
8:30-9:00        報      到
, ]8 B: Y# I+ s, w: H1 r4 a6 c, w% e9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
- n0 ?$ U% m2 q6 v# q8 T: ]: C9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展8 H0 T  A) E4 o9 D+ {6 O1 J- Z
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授1 P2 v* I" K; R) i
內容包含:1 W3 A+ e# \7 v3 Z  o! n% _
1. EMC問題趨勢的發生與分析
8 @( \0 m% E2 m0 J7 K) Z. k( Y2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析
6 q3 }0 A( e& I, y+ ?- Platform noise effect( J+ l6 t9 L0 U, p$ n6 r
- Noise measurement procedure ) {7 N: \( }1 b' F6 l
3. EMC之原理分析與設計技術簡介
1 V/ j( u/ N1 i4 a- k/ p& [4 H1 X- Filtering5 h% E! n* j# r' U
- Shielding
9 n. Z! \( w3 _, S- PCB Layout; {% K! j" V* P1 k& M6 w/ c/ p% w
4. 電源完整性(PI)之分析與設計+ X) A' Z! G5 i. t, g
- Power/Ground plane layer impedance measurement
1 a: I8 S0 o  t7 f- Power Distribution System (PDS) Design7 ]# J. P  ?: G/ x+ n
5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
* Z4 @6 X% p$ u- X3 g! w/ A! b- Measurements for Signal Integrity  H' t) D. G  M& \2 A$ F" H: Z& F$ @3 \
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems7 R% ?7 e* c) C$ r9 C2 O) K
( B; ]4 U! G' E  M! x0 [: h% z
2 r1 C% v# ~" j
97年11月04日 (星期二)
4 ^. Y+ A* ^7 e+ Q8 I
% M2 D' W4 E) ]0 a4 F% V/ R$ Y* K2 u9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
; B0 g! c3 p0 _9 q& m3 l內容包含:
1 n/ Z6 Z, |9 G, Z4 `電磁模擬範例分析
! R! R) t( k( _; x% z" n6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
0 t+ ~3 H% g/ D: u" M7 @* H•        WBFC Modeling and Simulation" z. S2 O7 G* v
•        MP Modeling and Simulation& W& q; r1 {6 Y) W  c4 I8 W
•        TEM Cell Modeling and Simulation
2 x& C! _% X6 T$ _1 x- _. }8 b) ?- General Noise Characteristics+ j/ G. `: Q! w# R! e1 l
- Power Noise Study
5 H5 \: y( V% A( e' _- Signal Noise and SI Study# I: T! W! \. L) }( O8 f1 O
�        Slit on Reference Plane. s. G/ k( Y, `# L
�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane6 r9 w% s) U6 Z2 P; Q; A
�        Reference Plane change8 Y. X" \8 J2 L& ^& S3 p7 j" N
�        Trace near the Card Edge
( u* ]# j9 D% x7. Trend of EMC issues on chip-level
- _* E7 ?% J  n. a( B6 h8 Q8. EMC design trend for chip-level+ [) j% w' u) K5 p5 W
97年11月05日 (星期三)
- K, n) c# @0 a' h6 p0 k9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授& d2 b5 P$ P7 r
內容包含:# ~( m' M3 X6 r) Z3 w
9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介
# K; B0 o% e7 b/ M10. IBIS modeling vs. Spice modeling / e7 a" U, k6 n* G
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用" S' u& C0 s6 _% A' k
12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring
) {  s  B: p: A  ]) g•        New Challenges in Modeling and Measurements
" c* t! ~) ?9 m: z•        Loss Mechanisms and Their Significance9 I. [# F2 |& _9 e
•        Limitations of Present Methodologies
$ @) v( b) }) z& D( @' @. w•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique7 x- E1 X) S  A% z5 E
•        Production-level Process Integrity Monitoring
. }2 x# M& _! }$ |5 d 13. 綜合座談

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3#
發表於 2008-10-14 09:42:44 | 只看該作者
幫推~很想參加,可惜人在桃園  V& O" m  ^+ {1 o/ F' J
回來又要寫一堆報告
4#
發表於 2008-10-14 09:45:41 | 只看該作者

回復 3# 的帖子

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......' [  w& r0 F- Q; \" o' C6 o( H& @+ C
% d+ C0 F6 x! B4 ~* P* ^! s; X: {/ n
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
5#
發表於 2008-10-14 09:56:02 | 只看該作者
原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表
0 {% m9 F( h( Y/ |( f% E, s給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
; ]0 ^9 b$ B+ r$ w3 `0 r7 _, D7 F
至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

) s5 l6 [! F. Y- x; N6 D
* M; `, y7 \2 \# r& ?" E) j好方法 ! `- `1 H3 s7 T, z6 T
& C" I# j* H9 j. x8 z
可是還是要有人在錄才行
6#
發表於 2008-10-21 17:26:14 | 只看該作者
硬體測試技術中,電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼? ( V" v* ]4 H0 c9 g5 t7 U

0 I# K" |: p6 U2 D1 d& U1. 上升時間和信號完整性
; A. C3 O* Z* D5 O2. 傳輸線的種類: W: ~" S9 a) s: N" v
3. 反射產生原因  O! Z  R! c1 v) {% x6 ^
4. 如何消除反射: y% l6 Q2 K2 {3 l: U
5. 串擾產生原因
5 i; O8 L* |5 b7 L6 C2 h6. 如何消除串擾
% a. h+ s2 f! e. r; M7 U7. 電源/地噪音的種類% x! p* c& {0 O, R! N! r2 p$ I
8. 電源/地噪音的副作用
+ ]& c4 h+ }6 A  ^7 l9. 如何消除電源/地噪音+ W  Y  v5 _- D" u0 ^
10. 電源/地模型
7#
發表於 2014-12-25 10:53:59 | 只看該作者
希望能夠再開課一次   ..............
8#
發表於 2015-2-12 16:05:45 | 只看該作者
听过林老师讲的课,受益匪浅!要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。
9#
發表於 2015-5-10 12:20:20 | 只看該作者
很好的资料,谢谢楼主的分享!
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