Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 6547|回復: 8
打印 上一主題 下一主題

[好康相報] 逢甲大學 車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測模擬研討會

  [複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2008-10-13 22:35:36 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
歡迎產學界相關人士與各大專校院師生報名參加!9 s" F& m- L2 _7 {3 o
        活動內容:# i- V5 r9 @8 G7 W* k- U; [
活 動 日 期        97年11月3日(一) ~ 5日(三)4 i2 q0 N3 q8 `+ C3 @8 t
時    間        (一) 08:30-16:00: 報到、貴賓致詞、訓練課程# l! W! @: k& H% M1 _: v
(二) 09:00-16:00: 訓練課程
! M1 a& a% q. \9 {* i(三) 09:00-17:00: 訓練課程及綜合座談
; y/ `% u- ?9 Z地    點        逢甲大學第六國際會議廳 (台中市西屯區文華路100號)(名額100人)
: E7 Q6 r+ C5 c  F' a         截止日期:即日起,額滿為止,名額有限,敬請儘速報名,以免向隅(名額100人), ~% Q: B* e7 R) N8 x9 N- ^- t
        報名方式:(1)  E-mail至pcnien@fcu.edu.tw7 i4 D8 _% N  K9 Z% n
(2) 傳真至(04)3507-2117
0 |# w2 a& y' A1 Z         請確實填寫e-mail與傳真號碼、聯絡電話。
8 L! ~4 W$ m9 L2 m         本活動完全免費(並提供上課講義),敬備午餐及茶點;歡迎踴躍報名參加。! S. F6 `' b6 k- t! {( G9 J
********************************************************************% Y/ D2 d. ]6 }" W) ]; B& B
主辦單位:經濟部標準檢驗局 4 R! A( q% r) [) z8 s7 a3 w0 `
承辦單位:逢甲大學 積體電路電磁相容研究中心
# n8 [  ?! A9 s; H7 [. \洽詢專線:(04)2451-7250轉3882 粘碧純小姐
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂2 踩 分享分享
2#
 樓主| 發表於 2008-10-13 22:36:43 | 只看該作者
車用IC封裝及電路板之電磁相容、電源完整性及信號完整性的量測及模擬驗證研討會議程% x1 F- j1 n  d# e! W* H# M5 R
97年11月03日 (星期一)
9 w' s9 Y3 i7 a! c時     間        活 動 內 容
6 N$ V9 Y* _3 V, D1 y- G4 A6 g8:30-9:00        報      到* M: X& f" m/ J- B/ w- L
9:00-9:10        開 幕 式 、貴賓致詞 (標準檢驗局 黃來和副局長)
4 T5 I) F' D& ^9 W; d3 w- U$ J9:10-16:00        講題: 從系統到IC層級之EMC設計與模擬技術的原理與發展. G% T. H. E( c0 c8 l# E; u
主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授* Y% {: |# o4 B4 J: B4 y- Z
內容包含:: b7 p% f# x$ r3 f  h& T
1. EMC問題趨勢的發生與分析
. C7 j4 Y- s5 X$ g$ \* q2. 數位無線通訊平台Platform noise 之分析- o3 e& d6 n& ]! D- Q& |
- Platform noise effect7 ~1 @5 K" x, S' {# M% p& h; P' R
- Noise measurement procedure
! @2 m1 L5 {" ]8 F0 N! h% e) k4 M6 I2 H3. EMC之原理分析與設計技術簡介  r' l+ b  m$ ?& U6 |' {; n% B6 }
- Filtering
: U. I, s  B5 ?0 o: g1 d, k9 N- Shielding. F3 z6 o7 g. i0 J! b
- PCB Layout
0 @1 G; D' p9 j* N# ~4. 電源完整性(PI)之分析與設計) e5 o( a7 E8 L& x' t, B
- Power/Ground plane layer impedance measurement1 z; R/ @: P1 l% l& G( J
- Power Distribution System (PDS) Design
1 a& }# ~* ]% w0 W" _% X3 q3 l- U5. 信號完整性(SI) 之分析與設計
5 C; ~, D) X1 L- Measurements for Signal Integrity; y$ `5 [+ f5 v- M7 H2 I
- Multi-Gigabit transmission over backplane systems" ^4 \. @7 b+ L3 [

* p4 [2 s: a5 g) |& u- J: V7 j0 f, N* K, n" }
97年11月04日 (星期二)
4 j& ?$ C; l, e
! B2 X" L6 G% Y" m6 V5 Z9:00-16:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授
8 O$ }+ j; X, d! M* J( A# g內容包含:! _3 z+ `6 u3 g" g
電磁模擬範例分析4 s  z+ u$ K: s3 I6 d1 f
6. Basic module-EMI analysis of sample board from experiment and simulation
3 g8 Z' e8 l) y3 v/ i•        WBFC Modeling and Simulation! K5 {# O8 l5 |! z$ n+ `
•        MP Modeling and Simulation2 k' `# |3 Q9 ?' a) {
•        TEM Cell Modeling and Simulation
" {) q( L' H0 z2 M" ^2 |: Q. S- General Noise Characteristics- w. A' \9 e% K+ }- u4 q# N3 A
- Power Noise Study
4 a: b- |  e  P" O; O- T- Signal Noise and SI Study
6 h9 `9 P" v/ m7 f9 B/ d�        Slit on Reference Plane
  g& T" w! f+ W$ {% X6 H! U�        Signal Pattern at the Edge of the reference plane- Y5 k( F  U3 V2 I! e6 Q  J
�        Reference Plane change: }5 G* X, ^( y& S2 o
�        Trace near the Card Edge
9 n" J4 U) |5 r+ f# C; `7 S7. Trend of EMC issues on chip-level9 o; p! `- g: T  j
8. EMC design trend for chip-level
. [0 _. L* p4 N' Y5 L! P97年11月05日 (星期三)
+ q0 ~# p' L# _, ]5 x2 J9:00-17:00        主講者:逢甲大學通訊系林漢年副教授、袁世一助理教授、電機系曾斌祺助理教授9 q( D* S& U& p' `* z& p
內容包含:
5 A1 E' J# {4 l9. IC-EMC相關標準與量測設備及技術簡介* ?3 A# _- L! y7 z) m; R5 z7 z
10. IBIS modeling vs. Spice modeling 1 m8 |# r% H9 [2 l9 {
11. IBM的電磁模擬軟體簡介與其在EMC設計的應用
1 }& v8 S- X$ Z, u  R12. Practical Considerations in the Modeling and Characterization of Printed-Circuit Board Wiring' |3 [& m' E9 ~' @" _' B) V: D
•        New Challenges in Modeling and Measurements
3 Q; m# A/ z( E" q, Y•        Loss Mechanisms and Their Significance
+ W$ h+ u1 r0 I" }•        Limitations of Present Methodologies
# k8 w+ F0 O0 E, d  [( s+ a4 u  {5 l•        Short-Pulse Propagation (SPP) Time-Domain Extraction Technique
' }3 j0 M$ l& _& u/ O. d* @•        Production-level Process Integrity Monitoring
. I  J" V, `7 H4 r 13. 綜合座談

本帖子中包含更多資源

您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號?申請會員

x
3#
發表於 2008-10-14 09:42:44 | 只看該作者
幫推~很想參加,可惜人在桃園8 E! ]' t7 P6 n5 x. ~* `4 w+ c
回來又要寫一堆報告
4#
發表於 2008-10-14 09:45:41 | 只看該作者

回復 3# 的帖子

給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
* o( f" {/ a. j7 m% y2 T/ N4 `8 {
+ o7 w1 J7 `/ f# F; M9 u至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD
5#
發表於 2008-10-14 09:56:02 | 只看該作者
原帖由 heavy91 於 2008-10-14 09:45 AM 發表 ; y7 Q7 l, h8 x0 k/ ~, q
給3樓....如果有人能錄下來的話就好囉.......
' z! X7 P1 A! Z6 `: \
( h6 J9 g7 \6 s, T; z+ _0 b. t至少可以聽到他們在說些什麼.....XDDDDDD

# K5 N9 Z9 W9 U0 Y1 u- V; ]" Y: A% V4 `# j4 `4 h
好方法 ) N2 A9 }2 d$ Y4 n; Q! ~; n, Z# Y

3 W- X/ u) O# `3 \# G$ \5 a9 ]* G可是還是要有人在錄才行
6#
發表於 2008-10-21 17:26:14 | 只看該作者
硬體測試技術中,電子設計中的SI信號完整性分析至少就有這麼多問題需要探討麼?
' ~' l8 p1 u# A
8 z# ^: f: x; k: Z1. 上升時間和信號完整性2 }1 x6 U6 e* I& w- I1 S
2. 傳輸線的種類
' c" K; L# I% x3. 反射產生原因4 m* p( ]1 d9 O& w9 q7 }5 j) ^
4. 如何消除反射/ E" A# Z% U, {$ f
5. 串擾產生原因
3 N1 C# |! E" h. T! O) P) D: U7 Z! e6. 如何消除串擾$ {! Z/ }  n' Q
7. 電源/地噪音的種類; `; M0 W% u+ u2 s6 `/ `
8. 電源/地噪音的副作用
* T/ ~# S( e. k1 _! a9. 如何消除電源/地噪音) Q+ p+ i. w6 O- m/ N0 q  P
10. 電源/地模型
7#
發表於 2014-12-25 10:53:59 | 只看該作者
希望能夠再開課一次   ..............
8#
發表於 2015-2-12 16:05:45 | 只看該作者
听过林老师讲的课,受益匪浅!要是能够详细讲讲chip级的EMC/EMI就更好了。
9#
發表於 2015-5-10 12:20:20 | 只看該作者
很好的资料,谢谢楼主的分享!
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-19 10:57 AM , Processed in 0.115515 second(s), 19 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表