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[問題求助] Latch-up for Bipolar CMOS DMOS 5V/40V

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1#
發表於 2008-5-12 20:31:02 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
各位大大:
3 \: v$ r0 p( m5 u3 v! }; ?, A5 c9 ]8 Y; @5 x; ]5 G
小妹我現在遇到Latch-up問題,fail情況都是直接燒毀,製程是BCD 5V/40V
: s* v  t; n! D, u  c8 f# y請問我該如何作FA分析去解決這個問題?
7 p8 f& r. w: T: M* z3 C( ]7 j" S+ B( G8 v1 x  X, E# ?7 Y
現在正在焦頭爛耳中,不知道方向在哪?# d* I- |5 C, K/ w  m6 t/ L$ q; t1 X
希望各位大大能給點方向或意見可以提供小妹,謝謝!
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2#
發表於 2008-5-13 10:04:36 | 只看該作者
請問有長epi嗎?lacth-up有許多原因....
3#
發表於 2008-5-13 11:27:20 | 只看該作者
請問是哪家foundry的BCD製程?是哪個generation node process? 0.5um? 0.6um?...
4#
發表於 2008-5-13 11:51:59 | 只看該作者
1. 先 review layout
9 I" x: ~" F- u* a8 p* M( c' t2. 如果無法從 layout 看出,做亮點分析,妳的例子是直接燒毀,所以已經知道大電流路徑& m6 \( \4 D# N- r; h- o; E
3. 就燒毀位置附近 layout 畫出可能之 latch-up 等效電路,看是哪邊寄生電阻過大,過大部分就接多一點 contact,或者寄生的 n,p type BJT 拉遠一點即可* Q' _+ a) D) o( _. q
以上是個人的小小經驗....
5#
 樓主| 發表於 2008-5-13 12:00:45 | 只看該作者
To Kokokiki:
" M, g& o" ]: c- v* R5 Znon-epi wafer# c- Z) Y9 w9 F' D7 L1 F( x
. p/ e- U; C+ y  g0 s
To Tcsungeric:/ A4 A; t/ o4 P! D; U9 ^
0.6um process
8 A# I1 N! y0 o) H% E
4 R/ \/ C6 }- {! B" WTo 阿光:
3 v4 M! D1 Z; q6 J+ j5 G目前都已確認過Layout,尚無找到問題
7 [; C  r0 J6 i( s% l
  Q4 V7 D9 ~9 l/ W3 m7 f2 t7 I. f9 ^! g. V; h  T' ?' h9 ~# j& n
我們的設計是有內含LDO circuit,針對Latch-up是不是有哪些應該要注意的點呢?
6#
發表於 2008-5-14 11:59:04 | 只看該作者
做完Hot spot找到位置, 看位置附近 Layout,Device cross section及circuit操作方式加上偏壓,& Q) ?6 W! O6 b
看有為寄生bipolar 被 turn on . 注意 P/N介面 0.7V 就turn on.( I$ }& B  g, S* W6 m7 ~. `
另外是高壓製程一般都有EPI.
7#
 樓主| 發表於 2008-5-14 22:14:08 | 只看該作者
抱歉,今天與晶圓廠確認,我們的製程是有 EPI 的
4 V6 X/ W2 R+ `
0 D+ l; Q- t. P. B' r請問,高壓產品的 Latch-up 打法是否完全遵照 JEDEC-78A 的規範?
( G' H9 l& U7 v) XInput pin 接 high 打一次,接 low 也打一次?4 t" s; N/ e$ {2 }0 g, M  `: ^# o5 B# {& B
或是只要參考應用電路的接法去打?
8#
發表於 2008-5-15 12:16:06 | 只看該作者
如果是有epi,那P-sub(or n-SUB),阻值是相對低,比較有可能的是HV-device的well之間隔離不良造成.! H2 ~4 }+ v' {/ Q0 q, x
可以在run-timing的狀況之下,用紅外線攝影(晶圓廠通常有)做高點分析,找到較hot的junction,做layout上的改善.
9#
發表於 2009-5-19 17:15:18 | 只看該作者
是漢磊的嗎?!
, ]. s9 j8 d7 H" L9 H加大Drain端到Gate的距離!!然後加大Contact Size!!/ k* R/ g7 z+ o  l  o! W
再不行就加Zener Protection!
10#
發表於 2009-5-20 13:21:34 | 只看該作者
在POWERMOS的GUARD RING 家厚,檢查LATCHUP 可能的路徑0 G# a; g9 R6 E* [" ?3 s8 S0 Z1 }
有燒毀現象  就要針對該地方分析latchup發生原因.
11#
發表於 2021-8-26 13:36:17 | 只看該作者
受益'良多
- E/ g$ X3 o) J) `1 Q0 A; N1 B
* ^0 G6 L9 J; |  _謝謝大大的分享!!!!
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