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[問題求助] Latch-up for Bipolar CMOS DMOS 5V/40V

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1#
發表於 2008-5-12 20:31:02 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
各位大大:- b9 b/ j+ \6 \# x4 N# s  e5 S

# a8 y, a1 R% M- X小妹我現在遇到Latch-up問題,fail情況都是直接燒毀,製程是BCD 5V/40V- D3 l+ r2 O6 O% [0 o
請問我該如何作FA分析去解決這個問題?
" I& `' w  u7 {: b$ r) K6 y) ^& S; ?
現在正在焦頭爛耳中,不知道方向在哪?2 D% S4 k  Y  e- I# {  e
希望各位大大能給點方向或意見可以提供小妹,謝謝!
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2#
發表於 2008-5-13 10:04:36 | 只看該作者
請問有長epi嗎?lacth-up有許多原因....
3#
發表於 2008-5-13 11:27:20 | 只看該作者
請問是哪家foundry的BCD製程?是哪個generation node process? 0.5um? 0.6um?...
4#
發表於 2008-5-13 11:51:59 | 只看該作者
1. 先 review layout9 }! @8 q! C- c+ D# o9 |1 n
2. 如果無法從 layout 看出,做亮點分析,妳的例子是直接燒毀,所以已經知道大電流路徑
6 D8 ~9 O2 I6 ^$ j( W3. 就燒毀位置附近 layout 畫出可能之 latch-up 等效電路,看是哪邊寄生電阻過大,過大部分就接多一點 contact,或者寄生的 n,p type BJT 拉遠一點即可; O. h2 n( Z7 @8 C/ w3 d
以上是個人的小小經驗....
5#
 樓主| 發表於 2008-5-13 12:00:45 | 只看該作者
To Kokokiki:0 W7 J6 Y, Y1 M2 n
non-epi wafer
" B9 N6 D+ ^- f' V* [, D: X: M. x- p
To Tcsungeric:
4 X4 w+ G7 B7 P5 c. J0.6um process$ V7 Q$ Y; ^6 o; w! k8 L
* Y3 r% M, |4 W* T+ E* I  ~$ w! `& R: n
To 阿光:
0 G3 W& ~2 ^. d$ c$ e目前都已確認過Layout,尚無找到問題
- @" F" ?  L2 p: A& U6 P' F- z4 ~% ]$ L
' G% X$ h$ l% m+ N* K- F8 I
我們的設計是有內含LDO circuit,針對Latch-up是不是有哪些應該要注意的點呢?
6#
發表於 2008-5-14 11:59:04 | 只看該作者
做完Hot spot找到位置, 看位置附近 Layout,Device cross section及circuit操作方式加上偏壓,
7 w; w" C7 a9 B: ~看有為寄生bipolar 被 turn on . 注意 P/N介面 0.7V 就turn on.
- f' I3 m( X9 B1 L5 y0 q另外是高壓製程一般都有EPI.
7#
 樓主| 發表於 2008-5-14 22:14:08 | 只看該作者
抱歉,今天與晶圓廠確認,我們的製程是有 EPI 的$ ]( ?& u* k) E7 r, ]3 @
7 R9 v$ {2 S8 o9 c. A6 b+ o" a* x
請問,高壓產品的 Latch-up 打法是否完全遵照 JEDEC-78A 的規範?$ }7 t" l. ?$ m- t: X! A
Input pin 接 high 打一次,接 low 也打一次?
3 X% T. I7 U1 g( I' Z; l% ]* B或是只要參考應用電路的接法去打?
8#
發表於 2008-5-15 12:16:06 | 只看該作者
如果是有epi,那P-sub(or n-SUB),阻值是相對低,比較有可能的是HV-device的well之間隔離不良造成.* x2 S' y" {+ l& w7 Z& r4 E3 \
可以在run-timing的狀況之下,用紅外線攝影(晶圓廠通常有)做高點分析,找到較hot的junction,做layout上的改善.
9#
發表於 2009-5-19 17:15:18 | 只看該作者
是漢磊的嗎?!
0 o" X3 q; p/ u7 o, {" V; M2 r加大Drain端到Gate的距離!!然後加大Contact Size!!( B% M7 S7 ^  P8 `$ H& _3 p
再不行就加Zener Protection!
10#
發表於 2009-5-20 13:21:34 | 只看該作者
在POWERMOS的GUARD RING 家厚,檢查LATCHUP 可能的路徑
) L5 \. w4 L6 A6 I1 v) ]4 `有燒毀現象  就要針對該地方分析latchup發生原因.
11#
發表於 2021-8-26 13:36:17 | 只看該作者
受益'良多
7 J0 E) M: t2 e0 ?; ^0 Q( w0 }
7 i$ j% X; P: x5 Q- \: t. P謝謝大大的分享!!!!
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