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[問題求助] 請問latchup的正確講法

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1#
發表於 2008-3-19 23:59:01 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
latchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1<VE1=VDD所以第一及的BJT導通,所以產生射極電流,然後產生集極電流,集極電流流到Rsub(大電阻),所以端電壓升高也就是第二級的base端,所以第二級的bjt導通,所以產生第二級的Ic電流,所以IB1的電流變大,導致IE1也變大,如此一直循環導致電流越來越大,把晶片燒毀 不知道這樣說對不對,但書上說是VDD跟GND短路是捨麼意思?不是只是因為電流太大的緣故嗎?
- |5 [& Q& p9 b* y: f3 x請知道的大大回答我 謝謝
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2#
發表於 2008-3-20 08:22:59 | 只看該作者
hi~
8 l5 G5 z4 t' {6 e" o" w  \. D電流太大,形同短路; A! ~  v5 a' \
所以直接說VDD與GND SHORT
3#
發表於 2008-3-20 08:28:29 | 只看該作者
我對這問題的理解如下:0 J+ U  K$ |7 L; _- p4 ]' r

( i) \) e+ h/ j3 M) E7 V) g1.
5 ~; ?9 V+ _" F6 VCMOS製程  我們做出來的電路  如果正常工作  電流應該是會在 substrate 基底的表面流動.....
# ~: `1 t: w2 L* W% G9 M' f比方一個  反相器  如果正常工作時  不是PMOS開 NMOS關   就是NMOS開  PMOS關
- H( ^: a$ N7 M7 [7 v! d$ g! y如果哪天   NMOS PMOS 都開,  那這個反相器 就無法正常工作了  (已經沒有反相的效果)
/ Z# M' z$ n1 r  h1 s輸出  OUT  那一點  PMOS NMOS的電流在 Fighting.  此時  電流正是從 VDD流到 VSS去...
+ I7 W: s: ?" i! C& H  X
7 B- {3 R' Z: D3 D1 r  {5 _2.  我原本預期電流只會在基底的表面流動.( }( W4 c) L3 r
     但只要LATCH-UP現象一發生  電流卻會在  基底  底下 由 VDD 流到 VSS.... (正常電流流動在1F, 此時LATCH-UP, 電流是在B2或B3跑)9 U) J# \7 u, z" J7 \: q7 z
     (這是我不想要發生的效應,只要一發生所有邏輯電路都不能正常工作了...)
; P8 t* F( S3 O! |" k     其他就麻煩您自己看教科書   SCR電路  等效於  CMOS 剖面圖的 相關說明, Latch-up是個不可逆的效應  只要發生 Chip就會死得不明不白...
7 i* r( M8 j! U7 k8 k     教科書上通常會寫  降低Rwell電阻或是降低寄生BJT Beta去壓制 Latch-up效應,
& c6 O6 \) O  j! _6 ^# i% q     Layout上常見的作法就是每隔一段距離就要打 contact上去
$ Y0 ^. \6 h' ^+ n! {6 O! k      主旨就是在降低 Rwell電阻.0 {2 r* Q: d' q  }7 m! ^) Y; f2 |
     不然就是要圍 Guard ring或 Double guard ring, 其中一個功用是 讓 SCR等效電路不要出現,自然就不會有 Latch-up的危險.* G. N. S7 Y& }2 n$ z* B

: a4 ^; T" k' b: M9 W如果這些內容有什麼遺漏或有誤的地方,也歡迎大家多補充.
9 d- y! }% X- n) p
* u1 R$ j* v* E# V% W; [" y5 @[ 本帖最後由 yhchang 於 2008-3-20 08:37 AM 編輯 ]
4#
發表於 2008-3-20 10:07:04 | 只看該作者
請問一下什麼是SCR呢?2 t! _' i1 I5 h6 h5 A
**因為要防latch up 就高壓與低壓隔開.ESD的PMOS 與NMOS隔開.
5#
發表於 2008-3-20 13:09:59 | 只看該作者
SCR:矽控整流子9 t8 K3 K( {/ |$ k
其實就像BJT,只是它用來做開關而已
8 y! S3 ^; \3 q/ t但其結構是為PNPN,啟動後就永久開啟,需OPEN才會停止4 J9 O6 N% X( U4 z6 W
典型的SCR開啟時間是1us左右,關閉時間約5~30us
6#
發表於 2008-3-21 12:00:58 | 只看該作者
这几天老听到说片子LATCH-UP了,但是我从书上看到的,这种现象只在PMOS NMOS之间容易发生,若单种MOS管在一个地方的话就不会发生,是吗?对于这个问题我一直不是很理解,请各位指教指教~
7#
發表於 2008-3-25 10:23:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

Thanks for your answer.
5 O: @! F" I+ g5 R0 B: aThanks for your answer.9 e* b3 T, c  |: R: u0 Z( s
Thanks for your answer.
8#
發表於 2008-3-27 22:45:07 | 只看該作者

回復 6# 的帖子

我的理解是 如果 PMOS 與NMOS 距離夠遠  中間又有 Guard ring 圍住的話
3 K: \& R4 a4 i% S: X( f  L那麼substrate底下所構成的等效電路 就不是  SCR電路9 y- B6 B- w, z5 z+ I7 W8 [4 v9 |
而是單獨的 PMOS  或 單獨的NMOS
9#
發表於 2008-3-30 20:43:13 | 只看該作者
接樓上:6 @' ]8 o5 B) `" M9 ^
其實我也一直在想,經常說的latch-up都是PMOS和NMOS之間的,但是好像聽説異電位的NWell之間 更容易 發生。
2 f; {: g, [% D7 K" a  l/ q7 U還有一個問題是,如果NMOS的一個端接的是VDD要注意什麽,是不是要注意ERC會引起擊穿還是什麽啊?
10#
發表於 2008-5-21 13:16:12 | 只看該作者
原帖由 tommy01 於 2008-3-19 11:59 PM 發表
& C  p5 H( P6 }5 flatchup是因為靠近Rnwell電阻大,所以VB1

. J4 U" M% F( p9 r  @6 a4 @+ E0 E5 ?! O  a2 j0 P

/ R7 ?' \! d3 ~  hlatch up一但發生,最後的結果不是gate被打穿就是juntion punch through或是metal燒毀。2 W5 k+ J9 S1 c9 `' ?
除了最後一項原因,其他會導致vdd gnd short所以書上講的也沒錯。
& y, n# Z- M3 A! A( o% m2 U只是他只講出結果而已。
11#
發表於 2010-12-9 21:25:07 | 只看該作者
蟹蟹大大分享
) x5 K2 q6 [1 |. q2 q3 ]* n受益良多
12#
發表於 2017-2-9 16:24:02 | 只看該作者
謝謝講解+ P5 o, d" w: i( m( `7 h: \- e* O
早一點看到就不會懊惱就麼久了
13#
發表於 2021-3-16 12:57:09 | 只看該作者
謝謝大大無私分享  p5 F3 G3 g) p, S( w4 N: P5 t
受益良多感恩大德
14#
發表於 2021-6-3 23:37:55 | 只看該作者
謝謝大大無私分享
# d, N& g/ c' Y4 F+ Z受益良多感恩大德
15#
發表於 2021-6-28 10:13:34 | 只看該作者
CMOS剖面圖畫出來,寄生BJT跟R標示出來,解釋一下寄生電路的動作原理
16#
發表於 2021-8-23 17:03:49 | 只看該作者
感謝大大講解2 q, P7 ?" H6 F0 f2 Q5 m6 J5 |" [
非常謝謝
17#
發表於 2021-8-25 09:19:58 | 只看該作者
& n9 v. c& a1 l6 s7 v1 Y
Thanks for your answer.4 E7 L- P4 _0 T( B. x
Thanks for your answer.
6 v* n0 N+ G+ |. V2 EThanks for your answer.
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