Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 24506|回復: 14
打印 上一主題 下一主題

[問題求助] chip power ring 电阻一般不超过多少?

  [複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2008-3-13 18:09:48 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
对于较大面积的die,从ESD考虑,power ring 电阻一般不超过多少?6 [8 ?3 Y- c1 ~# b. I4 p
请高手指导,谢谢
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏 分享分享 頂1 踩 分享分享
2#
發表於 2008-3-17 23:36:52 | 只看該作者
我也想知道這方面知識啊!!!!$ B0 k# {. H. A! g  c) k) G% s
有沒有人可以幫忙回答的呢????
3#
發表於 2008-9-8 23:18:47 | 只看該作者
最好不要超過 1 ohm
; {) f& m- H4 N2 u6 n如果會超過
" x2 C' t8 E7 w那麼 I/O 這邊的元件要畫大些
4#
 樓主| 發表於 2008-10-31 00:01:42 | 只看該作者
最好不要超過 1 ohm,谢谢, B3 ?. o2 e( Z  L7 k. F7 x
超过1ohm, I/O元件大些,这个尺寸大小怎么来把握哪  M: C- ^" H* s% Q$ B6 M1 X! a
. e2 S7 K/ k1 ]3 q! |+ T5 O! }
[ 本帖最後由 scy8080 於 2008-10-31 12:05 AM 編輯 ]
5#
 樓主| 發表於 2008-10-31 00:07:09 | 只看該作者
还有一个问题,我们在做IO 管时,拉大CON到GATE的距离,大概3-4um,这个作用是什么哪
6#
發表於 2008-11-1 15:26:02 | 只看該作者

回復 5# 的帖子

是为了增大Drain 到Gate的space,也就是增大Drain到Gate的Resistor,防止突然的大电流烧毁Gate!
7#
發表於 2010-5-14 15:37:38 | 只看該作者
若擔心 POWER ring resister,有另一個想法就是在這條路徑上多塞一些VCC to GND CLAMP
8#
發表於 2010-6-8 10:48:22 | 只看該作者
补充:1 Ohm可能难一点,3 Ohm比较实际,特别是较大的Chip!
9#
發表於 2010-6-14 11:36:24 | 只看該作者
看到許多前輩的經驗談......讓我增進許多經驗喔~~~感恩
10#
發表於 2010-9-11 16:13:21 | 只看該作者
回復 1# scy8080
) o, ~/ v3 p' ^9 ^, {. f2 ^4 P1 c
: p3 g0 m; q( h
2 W, l" i2 Q+ k& |& `+ s. l   % Y+ C3 N, B* e" d  z/ D' ]
 以TSMC作为参考,90纳米以下要满足bus电阻小于1欧姆,90纳米以上要满足bus电阻小于3欧姆;如果不满足该设计规则,esd zap的时候, W+ n" W, \( g2 S0 u+ H$ C
很可能打坏core里的device。0 D* }& ~  S5 [. ?
 
11#
發表於 2010-9-11 16:24:01 | 只看該作者
最好不要超過 1 ohm,谢谢
! Y( D# z. s# `7 ~/ f2 X& z超过1ohm, I/O元件大些,这个尺寸大小怎么&#2646 ...
8 t) w0 C4 m0 u8 `3 Rscy8080 發表於 2008-10-31 12:01 AM
" I+ B: H1 H. z: v6 D

2 F0 C& |! {3 N1 C  _6 R# q" n+ H# r) f8 D4 k8 C
I/O元件大些有一定的帮助,但瓶颈不是在I/O元件本身的大小上,所以I/O元件大些起到的作用不是很大,比如diode,Ncs的面积大,实际上对diode,Ncs的交流导通电阻减小并不是: x5 Q! B* [1 W' _- X: S
很明显,由于bus太长了,上面的IR drop太大,比如ead zap 2000v,有大概1.3 amps的电流,如果bus电流从1欧姆变到2欧姆,那压降就增加1.3v,而单从增大io的面积
, i' V5 ]8 B( P. q4 |/ {来平衡bus电阻的增大是很难的(再说成本上也不允许我们降io的面积做的很大),势必会对core device形成危险!
12#
發表於 2010-9-11 16:43:44 | 只看該作者
还有一个问题,我们在做IO 管时,拉大CON到GATE的距离,大概3-4um,& ...
: w4 N  \5 F2 ]7 F# I6 ascy8080 發表於 2008-10-31 12:07 AM

/ D. L$ O9 P3 N7 ~" Z) A' a# y
' o4 J# z$ z" o% z$ x拉大 CON到GATE的距离也只是拉大drain 端CON到GATE的距离,不会拉大source端CON到GATE的距离(同时一般会将salicide也去掉),2 b; }7 f; Z. ~5 ]0 t, Z: j
其作用是增大drain端的电阻,相当于在drain端串联了一个电阻,起到在esd 冲击时保护自己不被打坏;能保证ggnmos下寄生的诸多npn管/ I% Z$ l& C+ v/ i: v9 C
(gdpmos下寄生pnp管)能够均匀的被打开,进入snapback状态,泄放esd电流;如果drain端这个等效的串联电阻不够大,寄生的诸多
; N, d: ^- d) O9 u' nnpn管(gdpmos下寄生pnp管)可能不能够均匀的被打开进入snapback状态,只是有的开有的没有打开,而esd的电流或者说能量是一定的,1 X% A8 }7 ^% Y5 I, I  i" D6 S% D
必须泄放,电流在局部逐渐增大,出现二次击穿(热击穿),把device烧掉,我们通常看到的emmi图片上出现在source与drain 端的那道小
1 }- q) \6 P4 I0 K暗条或者drain端的小洞洞或者gate下的小洞洞,都是被烧毁掉的痕迹!

評分

參與人數 1感謝 +2 Chipcoin +2 收起 理由
semico_ljj + 2 + 2 不错。。。

查看全部評分

13#
發表於 2012-7-12 13:15:13 | 只看該作者
good!5 i: ~  u4 S  o/ T2 f" S
讲的很好,现在在被一个ESD问题困扰
14#
發表於 2012-10-20 15:04:41 | 只看該作者
受益匪浅啊··~~~~~~~~~~~~~·
15#
發表於 2021-8-26 13:34:21 | 只看該作者
受益'良多( y# z2 U7 y8 U, M9 I# a- m
; f4 D# G5 W) B1 f: |
謝謝大大的分享!!!!
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-14 05:46 PM , Processed in 0.125016 second(s), 18 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表