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[問題求助] 加入T18 ESD IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
大家好
+ W8 i4 [' \8 m3 j, b& H# V. R
" C* a9 k8 k6 V& B( M在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護
/ U. v2 @1 {7 y3 h, T) {0 D6 W% q) T
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port
  x+ c" G! ^8 l- a1 \1 W+ p
" K/ Y; s* A: T# d. m, P造成LVS驗證顯示短路
# `- M1 w2 k; B0 C8 D* H" S+ X+ V, q# s. L; p1 f% i+ M
因為用的是TSRI給的library- p, e2 F% @( u. }& u$ t# p* y
, O/ }. _! m7 L+ {% ]" E
發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的
1 J' t8 q' `0 Y4 g- Q2 U4 i) ~* k) i6 j5 y2 c
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ
) R4 f3 _8 g) E6 ]" |2 f7 K
% Z- L+ j& p3 G5 j是stream in 的時候就有問題了嗎?
1 U9 m$ M2 g4 L/ E5 a% U4 n- r% w. r, n
請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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