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[問題求助] 加入T18 ESD IOPAD之後 VSSE的gnd 會短路到所有port

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1#
發表於 2023-8-2 02:43:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
大家好
3 _; C' v* L% A* H1 S
- |$ z% c6 p3 X8 P+ I9 m4 j  b在完成晶片的core之後要打上PAD去做靜電防護
5 O. E8 b, ^. l. r$ y0 K, S; ^7 t2 D; q$ Q  n; u
但是我的VSSE PAD的接地端卻短路到所有AIN_18的port0 |* `9 b) \2 g0 m% {, y* a
! K/ ~" R; k  [4 j; [  k9 J
造成LVS驗證顯示短路; f$ F. K% d. I; g( [
3 b/ L; R' E' U: a& }
因為用的是TSRI給的library3 ?/ z. f9 k; O% ^

/ c  o& N; \2 ~3 C) w: R; l4 i+ H  Z發現他們的AIN_18接口好像會直接短路到ESD的gnd @@(從layout 的佈局圖匡起來的虛線判斷的' O- K8 g7 {: o* }: m# |4 ^
& ]" o- }/ J3 _8 _9 d, O
而且製程檔中給的一顆範例layout我也跑不過LVS QAQ& J9 W! ?* x8 _2 n2 w2 y# Y- b+ @# Y) F

8 W9 P8 y8 _, y* L是stream in 的時候就有問題了嗎?& e4 ^6 B8 a* W; o0 ?

3 W" o) \) g: {* u, F- ]7 O- f請問有人有遇過類似的問題嗎 謝謝大家
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