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Chip123 科技應用創新平台»論壇 › Chip2 -- 系統整合 › 量測儀器討論區 › NI 2017 年自動化測試展望完整報告

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[好康相報] NI 2017 年自動化測試展望完整報告

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發表於 2017-2-23 14:16:05 | 只看該作者回帖獎勵

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NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢，並發表對未來的展望。分享給大家

完整報告：https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing

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