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Chip123 科技應用創新平台»論壇 › Chip2 -- 系統整合 › 量測儀器討論區 › NI 2017 年自動化測試展望 完整報告
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[好康相報] NI 2017 年自動化測試展望 完整報告

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發表於 2017-2-23 14:16:05 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
NI 創辦人 Dr. James Truchard 反思過去 40 年來的測試與量測經驗、指出影響現在測試團隊的市場與技術趨勢，並發表對未來的展望。分享給大家8 f6 \- f, [& \* c( X6 d

+ Q% h$ S5 L$ q2 C+ _完整報告：https://drive.google.com/file/d/0B7yZMZoIrxFXWUlZTV9zeVFIUkE/view?usp=sharing' H+ c) C* c$ Z% M4 F1 A

0 ^' [: z; \* \5 t$ j7 x1 d/ x5 c. d4 H: l
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