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[問題求助] ESD防謢電路中,MOS的source與Drain大小不一樣,請問為何呢?謝謝!

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1#
發表於 2012-3-6 06:29:41 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
ESD防謢電路中,MOS的Source與Drain大小不一樣,請問有什麼作用?
9 N, q3 ^6 d: {! j& r5 F# W1 h0 |7 M再請問大的一邊是接Source or Drain 呢?與Pad有關嗎?
5 `9 `9 B% s9 a- R# X0 f知道答案的大大,請為小弟解答一下,謝謝!
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2#
發表於 2012-3-7 11:30:38 | 只看該作者
基本上 接PAD的部分會比較大 讓其具有較大的表面電阻 讓靜電電流走比較深層
3#
發表於 2012-3-7 11:34:07 | 只看該作者
本帖最後由 despair 於 2012-3-7 11:37 AM 編輯
/ H) l) |5 H& h( Q% ~9 `5 u- p( V4 x, L0 O, }. o  `. g
如針對source與drain面積大小不同進行討論,主要原因為抗ESD電流的衝擊。" m' x& d7 r$ ^
會有大小面積的差異,來因從PAD來的信號多會有ESD damage的問題。/ W. A% z# U' U' Y& c4 d
. B' R0 L8 F7 {+ E
S/D若接點看到的是從PAD接過來的信號,該接點除了co to poly之間會有較大的rule外! _" D5 Z0 @. Q+ R$ q2 D0 h8 P7 o
也會多層silicide bloak增加通道表面阻抗讓ESD電流走well這部份 ,用來抵抗ESD電流避免oxide or gate poly遭到破壞。. F: }7 l8 h6 }9 f

, _% j6 m$ {- a8 H這只是相關ESD guidelines的一小部份,若要全盤了解還需要多查資料~加油。
4#
 樓主| 發表於 2012-3-8 15:11:20 | 只看該作者
謝謝兩位大大的解答...9 B* V. w7 M4 B5 F; f
意思都差不多,我大概能了解了...: Y* Q5 Z" ?2 c* u. z
至於多一層silicide這部份,是指多加一層RPO嗎?
5 C4 s; M* m& A6 U  y4 a謝謝!
5#
發表於 2012-3-9 09:37:33 | 只看該作者
部分foundry是叫做RPO,或者又叫做SAB
. e6 [! H0 }! S+ }$ A$ M. y. S不同晶圓廠都有不同的稱呼
6#
發表於 2012-3-9 09:41:02 | 只看該作者
看了还是一头雾水,没看太明白! i# o6 Q+ E, R% j! y9 O
7#
發表於 2012-4-20 11:17:57 | 只看該作者
我的ESD防謢電路中,MOS的Source與Drain的SCG及DCG都有加長,
: q' F  L4 V/ [5 V5 S: JSCG約為DCG的一半,HBM可過+/-8KV, 但MM只能過+/-300V,
8 h6 `( R$ l$ d有做delayer, 發現是死在source與poly的介面, 請問為什麼?% v/ E" d2 T: u5 q$ Z' g+ O
知道答案的大大,請為小弟解答一下,謝謝!
8#
發表於 2012-4-29 16:54:08 | 只看該作者
看一次看不懂..看第二次
$ t: `  m% E$ D) G看第二次~不懂還是不懂~等遇到才知道
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