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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 5 p2 b4 a/ P6 m5 l+ S2 S
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 / A9 y# W9 L% \9 y' i' A
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) / A2 L$ M; m% z% k: M+ o# X* C. x% ?, c
●課程費用:5,000(含稅)
; @6 s+ T& P3 ?2 e  z3 `' c  S●報名截止日期:100/12/01(四) ) C; |$ T! N- s$ a. V
●開班人數:10人以上 (最低開班人數)
( M* S6 G1 @* r, Y+ g; r. v●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 8 B( y4 W* l, d  |  n* J
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
, `8 d3 s3 o5 L! W8 \' b$ d
. }& J3 ^5 x+ g, D+ {% Q5 c■課程目標. i% Z* _2 _, z  ?- y# V

- M0 k: y5 x) X7 c本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。, t: r1 h8 u- e7 o
1 Q# Y/ w3 L/ Y8 L! F+ W
■課程大綱) F9 k) L9 l+ U% }) ]1 H
第一天:12/08(四)9:00~16:00 1 ]# n6 O& s8 a' P- O
專利檢索入門與檢索規畫 ( O* i6 W- R5 f* L. u7 i% m, {
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
+ e' B; h) P4 Q+ c8 G* k* E, C專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
: G  E% D7 N2 r9 m( E) ]
4 B1 T/ x4 v* F8 K. B* T& q; W第二天:12/09(五) 9:00~16:00 0 R1 i; t1 t: D# t$ N. w$ }
專利分析可提供之情報 5 ^& s, ~9 k) {0 x  G$ [# P
專利地圖試做範例 ' U# |' c1 A' ?. T1 ~
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
- \: \! I  }3 p*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹
2 x; H) |' W7 D! r! ~+ Q8 ^$ D吳俊逸 博士, {% d7 u3 W5 Y8 R3 N9 _
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
. w5 l7 V9 F* Y現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
' k8 N# q$ x0 R. N! Y: t學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 5 A2 s6 r' y1 T# S- G6 }
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士 ! v8 Z( i* u: S) L% D
# x0 b1 }8 M4 P# w0 H1 j+ U
專長與經驗: 3 v% B8 D$ a( a& q$ a  L# E
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March). ; W& w) v! N, e- @
 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). 8 k; a+ o1 i4 v- q# _0 ^  X$ y
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010). - }8 J) }( N, @; F5 G
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). . u+ `* y& d) I! e- l
3 C) U- B5 Q* `$ l) a
經歷:
- g- n) h: D" D- f) d' D+ J, {" o! ]' q, R
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人
- t( d3 o* O  J1 p  z' u$ C) Y亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 $ @  W& q0 P/ y. d) N! f
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。+ r0 G' a5 _# j" O5 U  v6 v/ x& {

8 j. O: U4 Z3 D% U為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
1 G3 Y( p& x) T5 G6 Q
( k: j" ^  b' o6 q! I' r5 L& \. M本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。8 k1 J& `( z" |8 M

) w, r# a5 p3 J. \9 J3 f; Y訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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