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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心
+ K/ u) z5 |7 R% T1 z●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 ) i6 w: z; N0 d/ N
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) 9 T8 B. W. U+ u2 k/ H3 g
●課程費用:5,000(含稅)
. ~& }, ]8 c/ G% U$ _% k4 `- E●報名截止日期:100/12/01(四) 3 o4 ^) W) {) U$ G! T
●開班人數:10人以上 (最低開班人數) 6 [; k: o" n! J8 k9 r4 h+ I8 V2 _* [
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 . y4 H. h6 R) J5 L, a
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網
9 h* o2 `* _# C3 M( Z3 ?
9 T2 `% b/ w) j  _* H■課程目標
0 m" |3 S* p7 L- C8 ?
/ ?6 e0 a. k! O* x! C本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。" E9 }. s+ g& s  M3 U. @: x
4 t# f% `: ?  J* r
■課程大綱
% H, k/ E. b$ C2 z  l0 A: r/ D3 X  Q! @第一天:12/08(四)9:00~16:00
$ J# `/ k( S7 z8 j5 ^6 F# B) N專利檢索入門與檢索規畫
* F) t0 _/ t" W6 h7 K# d免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
  ~8 ?& a  f* v# x, a1 W專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則
) ?! G; \* @, q! t. [( C
, \7 E" l& l+ i5 x: T第二天:12/09(五) 9:00~16:00 ( H5 ?' k- `6 |( r2 v4 f
專利分析可提供之情報 2 \% \0 B0 N$ U( X  ^
專利地圖試做範例 ; b6 D2 v1 h: Y
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定5 n5 _8 l: T8 T$ y
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹& G3 m+ W' m5 w3 U, O6 T" m6 O" ?
吳俊逸 博士
- v; [% X# b: I在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
1 @: l& y( k) k4 ^9 \現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 - x( ?: G8 [# j' P, G
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 ; ?" @% M1 k3 `3 L3 v
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
6 A! i  N1 Q% }0 `
9 @2 `9 o, V6 d- E7 _專長與經驗: + u& g8 B$ C7 m, r& m& B$ R
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
0 R0 v4 ?! B% B# b1 K- i 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). : d8 R# `$ Q# I1 K- A# I
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
" X4 j7 f* f. H5 w+ v( W$ W4 w' Q 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
, ~/ k9 x3 |% q" o. }+ e/ N: q+ C% U& A" t# z* K
經歷:
2 M3 N1 ?' h5 s6 h1 C
8 A  W5 A+ X& U7 p  v工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 % N$ Q$ O% C* k/ V# m
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
4 _, d4 e1 I* D" Z9 S! j國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。# e$ N% g6 j  `& B
; o1 O$ Q6 n# V
為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。8 S2 S7 J. h; x0 L1 n% f" ~
) f$ ?% i, y. z$ P  Q; u* E7 ?  N
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。* l- ^1 v9 c& d6 ^% O( J: H
9 K0 q6 s+ L! {; z
訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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