12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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●主辦單位：工研院新竹學習中心
/ A' C  l  S! m) P4 q5 @! f●舉辦日期：100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00，共2天
●舉辦地點：新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
% Y) q0 Y  p& v7 {6 {●課程費用：5,000(含稅)
●報名截止日期：100/12/01(四)
●開班人數：10人以上 (最低開班人數)
●退費標準：如未達開班人數，則學員自費金額無息退還；課程開始當天不得以任何因素要求退費。
1 I- Q  @: Y. U●報名方式： 線上報名：請上產業學院學習服務網
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( c6 H% c- l; F! u! L' L+ z- u: n■課程目標
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% R* H, N- {- a8 W# x" n本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字，一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間，分析上千筆的專利，歸納出主要競爭者的佈局重點，找出本身專利的價值點，讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受，並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。

/ O  X" w; ?% L4 K( m4 m) o4 t■課程大綱
第一天：12/08(四)9:00~16:00
* a; G! j0 y4 d$ H: U8 S1 {專利檢索入門與檢索規畫
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則

- ]2 I' S5 Q, O1 }第二天：12/09(五) 9:00~16:00
專利分析可提供之情報
專利地圖試做範例
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
  C$ N. q2 t5 P+ A＊主辦單位保留變更課程內容與講師之權利

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(20120619 17:48:37)在知識經濟時代，以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢，同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器！專利地圖分析的目的，不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢，更重要的是能激發創新發想，試圖發掘可以改進的技術方向，作為公司的技術策略規劃的依據；此外，更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。

+ w" n" h: V. L- s  ]為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才，資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」，邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務，並結合業界案例研究，為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。

8 {" v* ~" Z$ i# o本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm，或電(02)6631-6533林小姐，6/29前報名即享特惠價。
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訊息來源：財團法人資訊工業策進會

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■講師介紹
0 U8 c/ [6 w! H3 L( [吳俊逸 博士
. o% r$ ]  E- ~; n* I在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面，提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢，協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
/ M2 U' Y1 m, z5 ?% p現任：繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理
學歷：國立清華大學工業工程與工程管理 博士
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士

專長與經驗：
" C$ a  ^* d4 |+ M 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
. i5 a4 m! D# H6 X4 b 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).

經歷：
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工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎，輔導志聖工業股份有限公司