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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 4 x6 |' q7 ?. }# M* g
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天 . w# r  t! C. y; v. x
●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館) & ~+ t$ W7 ]" G# k: ?( j2 l6 N
●課程費用:5,000(含稅)
+ l$ B" P- {) N4 u1 w% a●報名截止日期:100/12/01(四)
. f; D, V4 E, H  e3 \! z6 B●開班人數:10人以上 (最低開班人數) 5 p1 t) m; g1 m
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。
; G" c( o0 {8 ]1 F$ |●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網- B9 T. |4 @! I/ D' E+ s" _

* S5 g- G+ n$ i■課程目標+ O1 d( N! V3 e. {. y( A: w, O  L& X
: l3 ?( j, f2 m3 f# U5 @
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。
7 Q8 {" z. @9 X$ W2 H7 B( K- t2 Y4 N) M- ^! ~! V
■課程大綱
  d2 Q+ a' r- B. c第一天:12/08(四)9:00~16:00
" q. n8 N. O% J( q' X+ s$ n6 g8 }專利檢索入門與檢索規畫
- w" d  B; J6 Y8 w7 m- M, a0 U2 X) @免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
8 }* D! ]( o& }+ |% Q2 V專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 0 [. a: F: e' u% l3 z. L* p* }5 J4 {

: O. Q8 |* d7 Q8 Z( V, ~第二天:12/09(五) 9:00~16:00 9 t8 ?+ ^! N# I. q" B9 U
專利分析可提供之情報 # K4 n) J# b+ P, K& \# Q
專利地圖試做範例 # g1 D2 f; t& Y, s! D5 G
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定0 q! ^# a+ H/ M" }$ f
*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹, f! F0 Y+ a* a& |/ X# Z% @# T: h
吳俊逸 博士; S2 C* ^, l! d) j- u& W
在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。 6 |- M+ S$ |) m
現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 ! J) }, O- p4 Y; ^9 _1 n2 }
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士 ' w; y3 c% O, P# `4 j$ U+ S% k
國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
5 n+ I+ W. h- _7 M1 D
! {6 X' E3 m0 e" t1 ?$ Z# }專長與經驗: 2 l! a, I6 f& ~3 t- u0 x( C- p' b# \
 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
. O& S/ r+ N: `8 B  W- I 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June). + D8 m/ i7 I! O: L1 [
 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
- r  d+ V1 A6 N, A- x( r 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010).
: B5 T. l. E$ C3 t; ^- w3 I) P/ M) u  [& W) S& C& E
經歷: $ H, y" D/ _7 @
/ ^: ]* X* z3 f$ p' X, ?  g) p
工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 : X, O: X! d) o$ f6 ]7 z" S
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理 * O) B+ H/ W7 l, u/ x9 B) s, y
國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
! g+ f. g  C. V  I/ P
) Y, C% a  p8 ~2 j4 B+ u為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。
$ X$ |; S/ u' @) s, s' }7 F, Q: E* }( ?  S8 q
本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。
9 Y0 i9 D+ q" H
. m  Q, `0 o# n3 I  y( R% M( s訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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