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[專利探討] 12/08~9 專利分析價值與專利地圖實務研習班

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1#
發表於 2011-12-2 13:52:39 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
●主辦單位:工研院新竹學習中心 - y6 q! d8 p# v2 K2 K( c# ]
●舉辦日期:100/12/08(四)、100/12/09(五) 9:00-16:00,共2天
9 j$ W9 k2 ]% g" F7 n! d! m/ U●舉辦地點:新竹縣竹東鎮中興路4段195號(工研院產業學院21館)
$ l$ U1 f9 y7 g2 U$ v●課程費用:5,000(含稅) % e0 I$ R8 V8 |( Z4 D- u; w; W
●報名截止日期:100/12/01(四)
  Z' }- r% P4 b% B: y$ p: e●開班人數:10人以上 (最低開班人數) ' F- {. g5 v. c
●退費標準:如未達開班人數,則學員自費金額無息退還;課程開始當天不得以任何因素要求退費。 6 C; J8 f6 h7 a) V6 ?6 v9 a  v- ?
●報名方式: 線上報名:請上產業學院學習服務網+ a' q3 ~# L) Q6 _
- k- j1 X4 j- w3 Z3 {- z8 K* G
■課程目標
; Y- D( t! g% G, Z( I5 o0 z+ {6 g( ?1 a/ |# H
本這個課程讓你擺脫對專利地圖的印象只是一堆複雜的統計數字,一些虛有其表的圖形。我們帶您看如何在有限的時間,分析上千筆的專利,歸納出主要競爭者的佈局重點,找出本身專利的價值點,讓您或您的老闆對專利分析工作有完全不同的新感受,並進而利用做為公司專利策略擬定的重要依據。0 S5 ~/ ?9 o& F5 U% ^; Q
/ i- K; P) w, a9 q6 B
■課程大綱
5 ^2 w/ [5 Q. M* Z0 @7 O: o第一天:12/08(四)9:00~16:00
( O! U, g5 z, G3 G/ w專利檢索入門與檢索規畫 * I. G' A$ m; u9 v- T
免費專利資料庫使用 (台灣,中國,美國,歐洲)
$ i% v4 n  L/ H# }3 I3 p+ T" ^0 n專利文件正確解讀方法與快速分析專利的法則 . Z) T. Q! w2 h. y9 H: ]3 x
9 A" a% v& N4 k+ V. [
第二天:12/09(五) 9:00~16:00 8 s6 x; ?- V$ C! ^- M' B4 ~
專利分析可提供之情報
- X' E7 ]) ]# Z3 r, {$ O專利地圖試做範例 , S# K+ o0 U8 O& B# B
進階專利地圖解讀、分析與策略擬定
" c5 V1 |2 R( d( A*主辦單位保留變更課程內容與講師之權利
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
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2#
 樓主| 發表於 2011-12-2 13:52:49 | 只看該作者
■講師介紹% R8 x! o3 |" W
吳俊逸 博士
" u/ m) A& z& K在智財IT服務、Ontology為基之知識管理核心技術、Web Mining技術開發等方面,提供資訊技術服務與知識管理顧問諮詢,協助顧客開發客製化智財資訊分析平台。
5 V0 U/ I) ?, f1 n2 {0 G現任:繪捷資訊股份有限公司 研發處 副總經理 - y0 B' b8 P  h- U2 S
學歷:國立清華大學工業工程與工程管理 博士
' m: V8 S* S) Z! G; l: j國立清華大學工業工程與工程管理 碩士
5 ^+ n& A' `. F  L# G/ e3 u1 K7 l% j: Q. ~# O2 O
專長與經驗:
# f; {! Q- o7 Q 專利摘要: “Automatic patent document summarization for collaborative knowledge systems and services,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 18, No. 1, pp. 71-94 (SCI, 2009 March).
" A* y: A9 r  R/ C4 c 專利分群: “Clustering patents using non-exhaustive overlaps,” Journal of Systems Science and Systems Engineering, Vol. 19, No. 2, pp. 162-181 (SCI, 2010 June).
1 J3 ~5 a# A9 {5 e6 \ 專利分類: “Applying the BPANN and the hierarchical ontology to develop a methodology of NTF-based binary knowledge document classification and content analysis,” Proceedings, The 14th International Conference on Computer Supported Cooperative Work in Design (CSCWD 2010).
% Z* j' \" n3 @! l4 O/ f( c' i2 y 專利品質: “A patent quality analysis methodology for innovation management,” Proceedings, International Conference on Mass Customization and Personalization - Asia Pacific 2010 (MCP-AP2010). ( K0 B; a4 e. w% A! G8 I

* [/ P$ U( N5 Q經歷: * \. k- f1 y- Y) V0 E( p

4 ~4 H. j+ b. j/ T4 ]! n工業局協助傳統產業技術開發計畫 智財服務之防禦式決策支援平台 計畫主持人 6 [& L. i5 T: @6 V: ~' Y
亞頌科技股份有限公司 智財處 專案經理
2 }8 D+ [/ d" G4 n4 M+ h/ E( t: U" [國科會 產學合作研究計畫 光電設備產業之研發知識管理與專利佈局–以創新分群方法為基礎,輔導志聖工業股份有限公司
3#
發表於 2012-6-20 09:28:50 | 只看該作者

資策會7/12開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」

(20120619 17:48:37)在知識經濟時代,以技術為基礎的「專利」是企業最佳競爭優勢,同時也是對企業本身殺傷力最大的銳器!專利地圖分析的目的,不只是靜態瞭解目前產業技術狀況與趨勢,更重要的是能激發創新發想,試圖發掘可以改進的技術方向,作為公司的技術策略規劃的依據;此外,更可以協助企業制定專利合作與避免專利侵權的策略。
4 M0 g' T. U* v* O5 N, i1 M
% W0 M& r( T: `( c& f- X為協助產業培育專業的專利分析與技術預測人才,資策會特開辦「專利地圖分析與技術預測實戰班」,邀請資深業界人士依其經驗講授地圖分析實務,並結合業界案例研究,為最適 in-house 研發人員、專利管理人員進修之課程。% M+ l" B% D+ z  K& v) a

8 K  _0 E  u0 Q2 l本課程詳細訊息及報名網址為http://www.iiiedu.org.tw/ites/ptMA.htm,或電(02)6631-6533林小姐,6/29前報名即享特惠價。2 N$ `$ j( H9 r+ [

) V+ }8 D7 s/ e( N訊息來源:財團法人資訊工業策進會
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