10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom · 發表於 2011-9-28 14:29:40

活動日期

2011-10-13

報名截止日

2011-10-07

人數限制

120人

活動場次

台北

活動地點

維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 - V9 n( B8 f+ _4 k/ G		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。 6 \- v% W1 W, Z
08:30-09:00$ x' N2 K( h" \! F+ l	Registration and Welcome * i" e2 S2 y a: X4 d9 l% ^6 z! ?	13:00-13:30 ; o8 T2 w; f& P- p7 K4 P3 r* `	Registration and Welcome ) h/ s$ A# S: N2 }2 ]
09:00-10:00. l2 l. M4 s& w9 U( s) X	DDR1/2/3的電氣特性規格要求 C) M; m( }. \|0 D8 t* `6 j	13:30-14:30 2 M0 X! y, h0 H( z* p) f	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰3 g) s5 \|0 ]+ ] e
10:00-10:30 ' P+ l( X% s7 A+ a- b+ q- L4 i	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧 4 y+ _0 h2 W3 ~" Q: b- U: H	14:30-15:00& {8 Z6 c' A0 A5 C& r! I	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程* ?4 }! z1 G% l6 z
10:30-10:50" N0 L% \| C! }* c; H* I	Break & Product Fair/ g- p6 P' R: Y! S3 g$ B" ^	15:00-15:20 * ], t. ?% i. f, G% y$ C& B/ z	Break & Product Fair, b- @: U- N, a. q0 }
10:50-12:00- ^3 P& U' h7 M% A$ e3 {8 g$ [	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程 : n1 \- j3 m6 O	15:20-16:30% ?) `( ?2 \|' d" ` m	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 & G$ J8 b9 W- X. l
12:00-13:00" e. ]5 s, O" j" X7 J" M# i# S	Lunch( k V; b9 c/ X( @+ x: ^	16:30~17:00& l' ~) j+ w0 I; `! ]	Survey & Lucky Draw + h( W( E4 n) a

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[好康相報] 10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會