10/13 自動化測試(DDR1/2/3)暨通用序列匯流排(USB 3.0)相容性研討會

amatom

活 動 日 期	2011-10-13
報 名 截 止 日	2011-10-07
人 數 限 制	120人
活 動 場 次	台北
活 動 地 點	維多利亞酒店 1F宴會廳 C廳 (104台北市中山區敬業四路168號)

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DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會		通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。 0 i1 g/ {  V8 d. h* F9 W		隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。
08:30-09:00 $ e! J: Z7 h8 q	Registration and Welcome 3 Z$ h" p! T- J	13:00-13:30 + Y' d% r3 u* S) x' b) }	Registration and Welcome : \2 r/ D; I1 d" b+ U, y
09:00-10:00 / M( V) I1 M3 G	DDR1/2/3的電氣特性規格要求	13:30-14:30	速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰
10:00-10:30 " a  ^4 V0 G2 L) u% b	DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧	14:30-15:00 ; x3 z! O, F  ?1 Z$ _8 t	USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程 - L) s, v2 N- z- I& n- M
10:30-10:50 : n/ U% s5 p/ r	Break & Product Fair	15:00-15:20 + t+ {4 h! c0 e	Break & Product Fair
10:50-12:00 ! r$ s5 h- Y7 J) z! `) R	如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程 # e/ Q. k: V/ T: b	15:20-16:30 " k' n4 F* F2 ?2 e' o: ?	USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題 . c5 \0 w" @' ]7 h& h4 z4 I' d
12:00-13:00   {+ y) j6 ]! i3 r) r' i	Lunch ' u/ U% }! s) ^	16:30~17:00 + [  @) y# D/ w1 e5 D+ ~	Survey & Lucky Draw

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