DDR1/2/3 電氣特性分析與相容性測試研討會 | 通用序列匯流排USB 3.0量測技術研討會 |
隨著科技發展與市場需求DDR技術不斷演進，有多種速度、容量及低耗能規格，下一代DDR4標準也即將就緒，如何驗證與除錯考驗著工程師對DDR規格的瞭解。本次研討會將簡介DDR1/2/3的電氣特性規格要求，參數測試與系統驗證技巧，以及如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程。
# a% C" e/ t* ?: n/ M( m | 隨著USB2.0傳輸界面的普及應用，使得速度比USB2.0快上10倍且向下相容的USB3.0傳輸介面議題持續發燒。在5Gbps傳輸速度下，USB3.0的相容性測試要求相對地嚴格許多，在設計時要考慮發射端在高頻信號的衰減、展頻時脈；接收端 Equalizer 設置和抖動容忍度的測試，以及新的USB3.0纜線和連接器等影響信號完整性的因素。2 }2 D, z: T$ v+ a# C
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+ L& x) a2 `1 m6 B. s4 _$ h2 M* A | 速度高達5Gbps之USB3.0產品所面臨的嚴峻測試挑戰: f$ U [' e0 m2 b9 N" @
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, E4 f6 g0 {1 e1 I+ U | DDR1/2/3參數測試與系統驗證技巧: Q8 [" m3 u# J6 T
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| USB3.0的官方認證測試中，包含發射端及接收端的測試項目及流程
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| 如何利用DDR1/2/3 自動化量測來加快驗證流程 d- @& T0 d" T( R$ A
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| USB3.0的驗證及除錯技巧，以及認證過程中導致該失敗的常見問題; O8 {! a) g/ w/ n
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發表於 2011-9-28 14:29:40
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