7/20 新竹2011 LED 先進測試技術研討會

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2011 LED 先進測試技術研討會

活動日期: 2011.7.20 (三) 13:10~16:40 活動地點: 新竹 科技生活館 203 室 　 隨著 LED 的發展與技術越來越成熟，其應用領域也已經遍及背光模組與照明市場，根據LEDinside資料顯示，今年 LED 液晶電視機背光模組的滲透率可達 40 ~ 50 % ，預估 LED 的市場需求將成倍數成長，如何提高產能與降低測試成本已經成為當前主要的課題，本研討會將為您介紹最新 PXI 技術如何應用於 LED 光電多點測試，以達到 LED 最佳測試效能。 　 美商國家儀器與順英科技推出完整的 LED 多點測試系統，不論是電學或光學特性的量測，均可提供完整的測試規畫，協助您完整建立 LED 生產線測試系統。
活動焦點:
活動議程: *大會保有修改議程之權利