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Tektronix 創新論壇推動數位時代中的創新# ~' E& N# x; K# P/ i
7 V+ }% W3 H0 W4 J• 新竹場次 • 4月19日 (週二) — 新竹國賓大飯店,10F$ @# H+ l6 I- K5 ~) @/ k$ {% ~
• 台北場次 • 4月20日 (週三) — 台北君悅酒店,3F Ball Room
0 O2 ]& f0 r1 q! R" O! T1 {時間與城市: - 2011 年 4 月 19 日,台灣新竹
- 2011 年 4 月 20 日,台灣台北
- 2011 年 4 月 22 日,中國上海
- 2011 年 4 月 26 日,中國深圳
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4 G/ J/ V# v+ k0 o3 B8 B創新技術的加速發展及其在高速串列,嵌入式設計和 RF等領域的廣泛應用,要求您結合最好的設計工具和最穩定可靠的測試方案,以便按時製造出最優秀的產品。太克2011年春季創新論壇,首次提出安排了資深的國內外測試專家親臨現場,為從事工業設計研發和政府教育研發的工程師和工程管理人員,介紹涵蓋高速串列標準測試的最新測試解決方案。
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