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[問題求助] ESD失效分析求助

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1#
發表於 2010-11-20 14:59:18 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
2颗VDD到地测试0 O9 Z; {+ Q& `5 o) ?4 q* C
1),第1颗从500V开始测试,大部分在500V时就失效; |9 C$ q/ H8 e- h  L; {
2),第2颗从1000V开始测试,大部分在1500V时失效4 _& z! h3 Y. a) L6 U
电源到地的结构为分布式的GGNMOS结构( u8 N5 }* u; y' D$ {$ U
失效机理是怎么会事,多谢
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2#
發表於 2011-1-18 14:32:02 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:
  i# \' B7 p' \$ s/ e+ X" V: z1. 請問製程為何?
. Q" W0 Z$ t# Z2 {0 f/ q2 j( O2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V開始打, 為何?' E$ _& X' t9 M* K8 w5 x, Q4 t# H
3. 你的GGNMOS的W=?, L=?, M=?, DCG=?
( \/ R; \; y+ S' Z! ~# V& h& L要有上述的數據才能做最基本的分析.
3#
 樓主| 發表於 2011-3-27 11:34:00 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:' x! _1 H. J7 N) f/ {
1. 請問製程為何?  {  [+ i: o) X% L
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...$ ]4 q) V- r$ N& P. V
klim 發表於 2011-1-18 14:32

4 f4 ]6 B8 t2 `& F* C3 [% e, H
2 S3 z% ]% N- L; a4 m  T: }/ k1), 請問製程為何?
' R! G8 Q( z: ^, k# `5 A tsmc 0.18um
1 `, w) i0 j; W' f4 P" M* E- k
* a/ {" w1 X9 \- Y2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...
  o8 x4 j# w* h$ Y9 w3 p7 o. j两个芯片均测试HBM模式,故意一个从500V开始打,一个从1000V开始打- Y: |# O) D6 I) _4 Z
' r1 H$ i3 I* ?# S1 s1 Z% |, Z
3.ESD 的layout遵循了TSMC的<<esd design rule>>,只是没有固定的电源引脚,而是,通过配制IO口的属性来设置电源引脚的位置
4#
發表於 2012-2-12 13:41:58 | 只看該作者
感兴趣问题的进展,是样品概率问题吗?
5#
 樓主| 發表於 2012-3-13 20:20:27 | 只看該作者
感谢关注,ESD问题已经解决
6#
發表於 2012-7-12 12:21:25 | 只看該作者
how to resolved it????
7#
 樓主| 發表於 2012-8-21 21:40:30 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路
8#
發表於 2013-10-13 02:30:06 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路 ??
4 \7 K9 Q8 l6 [# B, A# ?3 {均勻是指什麼! N& ^* @/ O; A8 d& i" ]2 o( g
方便貼圖上來嗎
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