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[問題求助] ESD失效分析求助

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1#
發表於 2010-11-20 14:59:18 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
2颗VDD到地测试% H8 j" b* d  k) y+ N
1),第1颗从500V开始测试,大部分在500V时就失效
: B# @4 r, Y9 {! E6 r! y2),第2颗从1000V开始测试,大部分在1500V时失效
8 M& `6 `# W$ F2 e4 b+ m4 g* j# b电源到地的结构为分布式的GGNMOS结构
! I5 X2 M$ s8 y0 H# k: I失效机理是怎么会事,多谢
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2#
發表於 2011-1-18 14:32:02 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:9 ]0 X& s7 g" t# C3 |, t
1. 請問製程為何?1 X* ]/ u* ~+ l0 Q) z2 M& m
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V開始打, 為何?5 G8 n; ~' z) g% G1 M" Q
3. 你的GGNMOS的W=?, L=?, M=?, DCG=?% m5 p! u# W1 c5 L1 b
要有上述的數據才能做最基本的分析.
3#
 樓主| 發表於 2011-3-27 11:34:00 | 只看該作者
要回答你的問題前, 我要知道一些東東:
' H  e7 M/ p) y1. 請問製程為何?* c/ }& Z7 J$ \4 K
2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...- r' ~0 _0 b- m4 ?; o
klim 發表於 2011-1-18 14:32

* j+ q$ j, }% r" X( v% M7 P! l( W: N
1), 請問製程為何?3 ^' L6 M( j5 l$ u
tsmc 0.18um
& f4 j/ f6 N- y4 H  j" n) ]
( m' @+ G+ r5 O4 p2. MM:HBM約為1:10, 你HBM從1KV開始打, MM卻從500V ...
1 S/ g; N. B, @6 P两个芯片均测试HBM模式,故意一个从500V开始打,一个从1000V开始打
2 h. B2 _! I/ R5 ~  [8 ^* A/ |* |% A' ~* a
3.ESD 的layout遵循了TSMC的<<esd design rule>>,只是没有固定的电源引脚,而是,通过配制IO口的属性来设置电源引脚的位置
4#
發表於 2012-2-12 13:41:58 | 只看該作者
感兴趣问题的进展,是样品概率问题吗?
5#
 樓主| 發表於 2012-3-13 20:20:27 | 只看該作者
感谢关注,ESD问题已经解决
6#
發表於 2012-7-12 12:21:25 | 只看該作者
how to resolved it????
7#
 樓主| 發表於 2012-8-21 21:40:30 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路
8#
發表於 2013-10-13 02:30:06 | 只看該作者
在不同电源之间,电源和地之间,建立了更多,均匀的ESD通路 ??" D0 b6 g, c  |* T; ~# c2 U' F
均勻是指什麼
# d$ Y8 M, y9 y! C! W方便貼圖上來嗎
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