Chip123 科技應用創新平台

 找回密碼
 申請會員

QQ登錄

只需一步,快速開始

Login

用FB帳號登入

搜索
1 2 3 4
查看: 6243|回復: 9
打印 上一主題 下一主題

Layout Optimization on ESD Diodes for Giga-Hz RF and High-Speed I/O Circuits

  [複製鏈接]
跳轉到指定樓層
1#
發表於 2010-6-25 08:49:05 | 只看該作者 回帖獎勵 |正序瀏覽 |閱讀模式
Layout Optimization on ESD Diodes for Giga-Hz RF and High-Speed I/O Circuits+ S. I( M' a% U8 y# ^$ N" D5 D
* G* j$ J+ @4 k* |
遊客,如果您要查看本帖隱藏內容請回復

本帖子中包含更多資源

您需要 登錄 才可以下載或查看,沒有帳號?申請會員

x
分享到:  QQ好友和群QQ好友和群 QQ空間QQ空間 騰訊微博騰訊微博 騰訊朋友騰訊朋友
收藏收藏1 分享分享 頂1 踩 分享分享
10#
發表於 2021-8-13 17:43:00 | 只看該作者
謝謝大大的分享~~知識因分享而壯大!
' H. l! o. N) _- @  r" Y& t: W0 M/ a
~只有站在巨人的肩膀上才不會被食人族吃了!
9#
發表於 2012-3-8 14:19:41 | 只看該作者
thank you very much for your sharing
8#
發表於 2011-6-7 17:02:48 | 只看該作者
正為ESD耐受度傷腦筋----
7#
發表於 2010-9-11 17:00:26 | 只看該作者
Abstract -- The diode operated in forward-biased condition has( ~2 U7 U7 U5 x' b! h5 w
been widely used as an effective on-c ...# T6 q( a8 E2 i7 j) L) ^' E6 X
semico_ljj 發表於 2010-6-25 08:50 AM

% e, u/ Q$ J$ C7 O8 ]4 ?/ K8 e- A" ?5 s5 a- s8 U6 r1 N
6 {7 s+ W; i# R2 C
不知道这种形式的IO有没有经过测试,实际的效果和预想的有多少的差别,thanks!
6#
發表於 2010-9-10 15:49:01 | 只看該作者
看起來有幫助
0 C! P) h: y% E0 W感謝分享
5#
發表於 2010-8-24 14:58:33 | 只看該作者
谢谢楼主分享,非常感谢
4#
發表於 2010-8-21 09:55:37 | 只看該作者
下載來看看* S; k! W% V' _- }% b! @+ k
下載來看看
4 {0 t4 L1 ]/ D, J( B下載來看看8 {$ a! I' i1 V1 i, H1 L
下載來看看
' Z- g! Y. M/ [* q6 P9 q應該有幫助
( p3 ^2 h* |0 L+ r7 {% d( D謝謝囉
3#
發表於 2010-7-28 13:45:45 | 只看該作者
看起來有幫助% R0 Z# O0 y) W0 s; ^6 q9 `
感謝分享3 a, Q  B# `0 h9 P1 h( j( s" K
先下載來看看
& X  a  v, z' t! M" g- vthank you ~
2#
 樓主| 發表於 2010-6-25 08:50:33 | 只看該作者
Abstract -- The diode operated in forward-biased condition has* w- `0 c% r4 [3 y, Z/ T  C
been widely used as an effective on-chip ESD protection device at2 K9 c2 i8 B% I
GHz RF and high-speed I/O pads due to the small parasitic, X2 A: N0 Q" M% n" ^5 b7 L
loading effect and high ESD robustness in CMOS integrated0 G% o0 i4 Y' N0 T8 m5 E
circuits (ICs). This work presents new ESD protection diodes7 N! H* Z5 h) c/ X% J4 ?5 j+ g
realized in the octagon, waffle-hollow, and octagon-hollow layout9 [8 O7 W- c# ]" n/ W9 ]2 Z
styles to improve the efficiency of ESD current distribution and+ Q8 ?  K9 _7 n" f( V+ C* f
to reduce the parasitic capacitance. The new ESD protection6 W7 J7 e6 A/ Q% v5 Y) m
diodes can achieve smaller parasitic capacitance under the same8 J* i0 c8 \8 r! s
ESD robustness level as compared to the waffle diode. Therefore,9 G( V+ g5 I6 S
the signal degradation of GHz RF and high-speed transmission
5 d- P& F; O9 o& U  Q0 scan be reduced due to smaller parasitic capacitance from the new# i5 @: Z" S; x/ M' {5 {
proposed diodes.
您需要登錄後才可以回帖 登錄 | 申請會員

本版積分規則

首頁|手機版|Chip123 科技應用創新平台 |新契機國際商機整合股份有限公司

GMT+8, 2024-5-16 10:36 PM , Processed in 0.109514 second(s), 18 queries .

Powered by Discuz! X3.2

© 2001-2013 Comsenz Inc.

快速回復 返回頂部 返回列表