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[好康相報] 高彈性的 RF 平台 - 3/23 Semiconductor Test Summit 2010

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發表於 2010-3-5 01:33:34 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
活動網頁 - ni.com/taiwan/sts2010
3 M) C; M( @3 E# |
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半導體晶片設計愈趨複雜,不論是對於 IC 設計公司或封測廠,甚至是對於開發測試系統的 ATE 供應商而言,都面臨了比以往更大的挑戰。如何為半導體產業提供一個更開放、高彈性與客製化、降低成本並提升效能的解決方案,便成了現今半導體驗證與測試領域的重要課題。, `7 T( Y' B: B6 H, u- F5 |+ p

% d& g/ \6 e+ C: s7 _/ m本論壇由美商國家儀器主辦,集合國內外知名專家與廠商 (Tektronix, TERADYNE, Chroma…等),針對半導體產業的驗證與測試做深入探討,從標準 (Technical Standard) 的相容性測試 (Compliance Test)、 IC 訊號的特性描述 (Characterization) 或驗證 (Verification and Validation)、測試系統的建立到 RF 領域的半導體應用案例、現場量測 (Field Test)…等,提供了各面向的探討與剖析,也建立了產業界彼此交流及學習技術的機會。5 w5 X2 u+ u& g+ n* U, |/ r  U
 
. x# T# p9 [* n# Q( A+ K活動焦點:
( u* {& J, Q% I  s8 V6 H3 J3 L#剖析半導體驗證與測試所面臨的挑戰與未來趨勢; w' x9 e8 P. C2 P. i( n8 q: A5 @
#學習最新的類比、數位、混合或高頻訊號等測試技術
  [1 v0 f: n% t7 b. E#從相容性測試、IC 驗證與特性描述、量產測試到場測,提供完整的講題內容  k0 W. d+ j+ y- s" F6 V$ u
#了解最新半導體測試系統展示與業界解決方案
1 Q$ M5 F4 R, c: ?  i7 k3 o邀請對象:3 z1 Z$ r- P. j% r2 M+ t
# 有半導體驗證 / 測試 / 訊號量測等相關需求的工程師、主管或經理
$ L/ l4 ~7 I( G& S1 K$ W#IC 設計公司驗證 / 測試工程師& w, M! `6 P. T; L7 j; ?
#IC 測試廠測試研發工程師4 D2 E8 h% P8 L: @2 d: C
#半導體測試系統設計 / 開發工程師
: F; k' c. A! |5 P#ATE 設計 / 開發工程師' O+ K' b# p" l" m/ i5 c
#模組 / 系統測試研發工程師
( W4 A! m, `/ h8 ~$ [#RF 測試工程師6 }9 M1 X5 ^, V' l8 O4 p( d
#半導體元件 / 晶片 / SOC / SIP 測試工程師: r- Y* U2 ?# s  x* M
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詳細內容請看活動網頁,共有超過10個session,10家公司以上,超新的主題(RF, mixed-signal, 3D video, USB3.0...)$ _$ {. k* n5 q8 p6 M
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有需要半導體訊號量測.驗證.測試.RF平台建立的工程師千萬不能錯過!!!!!
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