9/22 EN 55022/ CISPR 22法規更新說明研討會暨模組/IC之EMC問題與發展趨勢探討

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EN 55022/ CISPR 22 法規更新說明研討會暨模組/IC 之EMC 問題與發展趨勢探討

在複雜的電磁雜訊環境下，電磁相容性測試在電子產品的研發製造過程中格外重要，除了是藉由通過驗證以取得產品的品質保證外，背後更隱含提昇國家整體競爭力的意義。尤其，近年來由於IC 製程技術之快速演進，電路設計之複雜度及電子線路之密集度也相對提升，這些高度整合的系統及元件，彼此間產生的雜訊干擾即有可能影響到產品的傳輸性能。這些因科技的進步而衍生的許多相關問題，使得系統晶片(將射頻、類比電路、數位電路等電路，整合至單一顆系統晶片(SoC))在整合實現時，將更加困難，而亟待解決。 . |4 |5 R3 a$ a) a, m ' ?) Q' f# e- s9 FR&S 落實深耕專業品牌形象，本次研討會將請R&S總公司EMI及訊號分析量測事業部產品經理Mr. Volker Janssen 針對最新 EN55022/ CISPR 22 的法規更新，如 CISPR-AVG及RMS-AV...等進行說明，亦將於會中介紹目前符合最新CISPR 16-1-1 規範的EMI 測試接收儀及相關量測方式。除此，由於EMC 的注意焦點已不再僅存於設備與設備之間，系統內模組與模組間的干擾及相容性問題更開始為業界所重視，為因應此一趨勢，R&S 特別邀請逢甲大學通訊系林漢年博士，針對目前高速數位電路設計下模組與IC 的EMC 問題，及其相關測試未來的發展方向與重點，為所有與會者進行一深入的剖析與探討．

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課程代碼	RSTWS092209
日　　期	2009/9/22 (星期二) ~ 2009/9/22 (星期二)
時　　間	From:08:30 To :16:30
地　　點	台大醫院國際會議中心(台北市中正區徐州路2號4樓402AB教室)
費　　用	免費
名　　額	150人，名額有限，額滿為止
講師介紹	Mr. Volker Janssen 產品技術經理 Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG 技術專長：Mr. Volker Janssen 於1986年加入R&S團隊，投入EMC相關產品開發至今已20餘年，累積了相當豐富的實務經驗，主要專責EMI測試接收儀及相關EMC產品的開發與應用。 林漢年 副教授兼積體電路EMC研究發展中心副主任 逢甲大學 技術專長：畢業紐約科技大學電子物理博士班，其研究領域涵蓋了無線通訊系統、數位廣播系統、電磁相容性設計、射頻及微波電路設計、光纖通信、天線工程等，具有相當豐富的學經歷與資歷，此次將與所有與會者分享並探討模組與IC 的EMC 問題。
注意事項	上課時請將行動電話關機或調整為靜音模式哦~

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2009/9/22 (星期二)
Time	Subject
08:40~09:10	報到 / Registration
09:10~09:20	致歡迎詞 / Opening
09:20~10:00	新型探測器CISPR-AVG & RMS-AV 之強制性法規 / Mandatory Standards with the new detectors CISPR-AVG and RMS-AV
10:00~10:30	EMI 測試接收機之於CISPR 25 的時域掃描運用 / Time domain Scan using EMI Test Receiver
10:30~11:00	休息一下 / Tea break
11:00~12:00	R&S 最新 EMI 測試接收機 ESCI7 符合EN55022 / CISPR22更新法規之介紹 / ESCI 7 - test receiver to match new EN 55022 / CISPR 22
12:00~12:30	Pre-compliance 之 EMI 自動化掃描量測介紹 / Precompliance measurements with Test receivcer ESL + ES-SCAN
12:30~13:50	午餐時間 / Lunch
13:50~14:50	模組/IC EMC問題之效應與分析
14:50~15:20	休息一下 / Tea break
15:20~16:20	IC EMC 發展趨勢探討
16:20~16:30	問與答 / Q&A and Discussion