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[問題求助] IC上客戶板子Fail的問題

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1#
發表於 2008-1-18 01:44:11 | 顯示全部樓層 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工作兩年常常遇到 公司的研發高階主管飛國外  解客戶的Bug' n5 r! `! h1 e7 G* }
原因往往是自己家的IC 在產線上做高低溫還有封裝測試都是PASS  但是往往一上客戶板子就出包
" y- Y- z/ u5 s6 X9 `6 F  M6 U
% ^. W4 g" b2 A. f我自己是覺得可能有以下幾個可能
/ g7 }$ _# z# d1.  IO的 Eye diagram不夠大 或者是板子傳輸線上有阻抗匹配的問題) P& X0 D/ w% x1 l
2.  Board Level的 ESD或 EOS Fail! n7 w1 N! A4 v! H! M) c/ |
3.  板子上的Chip間 EMI的互相干擾
# N7 m3 v8 n2 Q
; i! A' m: O+ p* ?我的疑問是   ' A" E0 E" |" w9 J
1.  除了以上幾個情況外  還有什麼情況也會發生 在客戶的Field(板子)會Fail?0 O$ S. h: b2 k* g" n& v& A8 v% L
2.  如果IO 的 Eye diagram不夠大, 有哪些有效的方法可以提高 Eye呢?% T  ]% d5 j; M$ [
3.  有沒有什麼方法可以事先驗證或模擬 客戶的環境  讓我的IC上到客戶的板子也不會有問題?
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