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工作兩年常常遇到 公司的研發高階主管飛國外 解客戶的Bug
9 H5 l- f5 {+ O0 q原因往往是自己家的IC 在產線上做高低溫還有封裝測試都是PASS 但是往往一上客戶板子就出包- o w$ j0 Q7 J/ J2 S: j: C: i5 g
' w N$ U8 H$ v* m1 `* _+ Y我自己是覺得可能有以下幾個可能( \9 `( ~- r$ e3 k# ]9 ?
1. IO的 Eye diagram不夠大 或者是板子傳輸線上有阻抗匹配的問題
1 e% F) f8 v6 ~) |- t* B) A8 k8 v2. Board Level的 ESD或 EOS Fail+ }: [9 s; b8 ~
3. 板子上的Chip間 EMI的互相干擾7 K; {0 \; ~' I$ ^$ e3 i- M
. p+ W, {9 \- v* u7 L: O: I
我的疑問是
2 P1 ] s: J! B, Z1. 除了以上幾個情況外 還有什麼情況也會發生 在客戶的Field(板子)會Fail?
1 b; n* k/ x. t4 T$ o* @2. 如果IO 的 Eye diagram不夠大, 有哪些有效的方法可以提高 Eye呢?3 ]$ o( Y( s q* }! ~
3. 有沒有什麼方法可以事先驗證或模擬 客戶的環境 讓我的IC上到客戶的板子也不會有問題? |
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