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[問題求助] IC上客戶板子Fail的問題

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1#
發表於 2008-1-18 01:44:11 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
工作兩年常常遇到 公司的研發高階主管飛國外  解客戶的Bug9 g* S% |) j6 T6 n$ L0 r
原因往往是自己家的IC 在產線上做高低溫還有封裝測試都是PASS  但是往往一上客戶板子就出包$ X( D' X# @$ D

* |7 M; H" D$ c' J我自己是覺得可能有以下幾個可能7 O3 e6 Z8 d' f+ v# \5 C& c1 s
1.  IO的 Eye diagram不夠大 或者是板子傳輸線上有阻抗匹配的問題
0 M: Y- E5 X3 f7 l8 E5 `, _2.  Board Level的 ESD或 EOS Fail
( b/ d" s& o' [+ A  r# K4 d6 F3.  板子上的Chip間 EMI的互相干擾! S8 K! c; o9 |! T
8 x0 w# X2 |) e  j5 w
我的疑問是   9 c& [$ z9 d3 l6 \5 T' r  a2 n0 Q
1.  除了以上幾個情況外  還有什麼情況也會發生 在客戶的Field(板子)會Fail?0 j) K& O( R0 ]! K: c5 ]1 m. D5 l- J/ Q
2.  如果IO 的 Eye diagram不夠大, 有哪些有效的方法可以提高 Eye呢?
- b6 [9 |% H3 G% I3.  有沒有什麼方法可以事先驗證或模擬 客戶的環境  讓我的IC上到客戶的板子也不會有問題?
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