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[問題求助] 關於I/O pad

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發表於 2007-11-6 17:23:09 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式
請問以前受限於ESD I/O PAD/ }, {# N* e7 G
量高速PLL輸出常需要除頻後量測~
3 x/ |, s5 ^# ?% H. o/ }0 h不太懂現在TX打出來的data rate都是數Gbps以上- A6 R$ _; Y, {2 o
那該如何量測呢?
/ e: I1 Z5 e7 b8 I0 T& F8 ?6 v還是現在的封裝都很進步了 @@4 j; [: Z$ o3 b7 d4 q
能請前輩解惑嗎?5 e9 n8 W: K! k9 a
謝謝^^
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2#
發表於 2007-11-6 22:20:26 | 只看該作者
是有可以上3.65Gbps or 6.4Gbps的serial I/F專用測試儀器或ATE (Semicon tester). 0 Z: E" C" [& I, _! a& P
只是暴力上的代價不菲罷了.+ d; y4 O4 R! q
; \: i' N) o' l* I; f0 D
200MHz以下的儀器或ATE都很便宜, 這也是大家能除則除的原因.
8 |- p% [2 e1 N- ?* j/ M高速Tx or Rx很多公司都是用loop back test在量產, 板子上搞個relay灌回去就好了, 9 Z! e6 s+ F# b6 n( Y
1小時5000塊台幣 跟 1小時1000塊台幣的量產測試成本差很多的...% [5 ^9 ~% L) j  _% k+ ]# X5 c, E
一個月出貨1 million 就差台幣5百多萬了.$ E6 U1 n. T2 I3 ]

2 K9 l* W. O/ X7 C" F# a[ 本帖最後由 DennyT 於 2007-11-6 10:21 PM 編輯 ]
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